[发明专利]卡尺无效
申请号: | 200710148701.X | 申请日: | 2007-09-06 |
公开(公告)号: | CN101140155A | 公开(公告)日: | 2008-03-12 |
发明(设计)人: | 川床修 | 申请(专利权)人: | 三丰株式会社 |
主分类号: | G01B3/20 | 分类号: | G01B3/20;G01D3/028;G01J5/00;G01J5/10 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 陶凤波 |
地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 卡尺 | ||
技术领域
本发明涉及一种卡尺。更详细地,涉及一种通过温度传感器检测本尺的温度,并修正因本尺的热膨胀而导致的测量误差的卡尺。
背景技术
数字式卡尺构成为包括:具有一侧测爪(内侧及外侧测爪中的任意一个)的本尺;具有另一侧测爪(内侧及外侧测爪中的另一个)、且相对于本尺自由移动地设置的滑尺;将该滑尺相对本尺的移动位移量作为电信号检测的编码器;基于来自该编码器的电信号显示滑尺的移动量的数字显示部。
在进行测量时,用单手握住本尺,保持这只手的拇指与滑尺接触,同时使滑尺沿本尺移动,把本尺和滑尺上设置的内侧或外侧测爪与被测物的测量部位抵接。在该状态下可以从数字显示部的显示值求出被测物的尺寸等。
但是,通过这样的测量方法,因直接用手握住本尺,所以,本尺因手上的热量而热膨胀,从而产生测量误差。因此,在要求高测量精度的场合,使用排除本尺热膨胀的方法。例如,在恒温室,将本尺固定在夹具上,通过经由隔热件使滑尺移动,从而可以排除本尺的热膨胀。
另外,因测量仪器本身的热膨胀而导致的测量误差,即便是卡尺之外的测量仪器也存在同样的问题,为了避免因热膨胀而导致的测量误差,有很多提案。例如,文献((日本)特开第2000-346601号公报)中被提案有一种千分尺,在弓状的本体上设置三个温度传感器,将这三点的温度的平均值作为本体的温度而求出本体的热膨胀量,从而修正测量误差。该方法被认为也可适用于数字式卡尺。
但是,在恒温室的测量,测量的准备作业变得繁琐,损坏了卡尺的易用性。另一方面,在上述文献的测量中,因使用三个温度传感器,所以,部件数增加,并且配线变复杂,导致成本增加。另外,将本体上的三点的温度平均值作为本体的温度,没有考虑本体的温度分布。
发明内容
本发明的主要目的在于提供一种卡尺,该卡尺可低成本且容易地修正因本尺的热膨胀而导致的测量误差,并可进行高精度测量。
本发明的卡尺具有:具有一侧测爪的本尺;被设置成相对于该本尺自由移动,且具有与所述一侧测爪一起与被测物的测量部位抵接的另一侧测爪的滑尺;将该滑尺相对本尺的移动位移量作为电信号检测的编码器,其特征在于,具有:温度传感器,其设置于所述滑尺上、检测所述本尺温度的;运算部,在所述滑尺相对于所述本尺移动到任意位置时,其基于由所述温度传感器检测出的所述本尺的温度,修正由所述编码器检测出的所述滑尺相对所述本尺的移动位移量。
根据本发明,在滑尺相对于本尺移动到任意位置时,设置于滑尺上的温度传感器检测本尺的温度,运算部基于该本尺的温度修正通过编码器检测出的滑尺相对本尺的移动位移量。
即,运算部基于本尺的温度信息计算本尺的热膨胀量,从由编码器检测出的滑尺相对本尺的移动位移量中减去该热膨胀量,从而修正因本尺的热膨胀而导致的测量误差。因此,可避免因本尺的热膨胀而导致的测量误差,高精度的测量变为可能。
本发明的卡尺因为可修正因本尺的热膨胀而导致的测量误差,所以,即便不使用在恒温室进行测量、以排除本尺的热膨胀等特别方法,也可以进行高精度的测量。因此,与现有的卡尺一样,可用手握住本尺来使用,可容易地进行高精度的测量。
另外,本发明的卡尺因温度传感器设置于滑尺上,所以,可使温度传感器与滑尺一起沿本尺移动。由此,通过一个温度传感器即可测量本尺测量部分的温度,所以,部件数量减少,从而可简化配线,将成本抑制得低。
本发明优选为,具有温度信息存储部,所述温度信息存储部将由所述温度传感器检测出的所述本尺的温度,和检测该温度的同时由所述编码器检测出的、所述滑尺相对所述本尺的移动位移量,作为所述本尺的温度信息来存储,所述运算部基于存储在所述温度信息存储部的所述本尺的温度信息,计算通过所述编码器检测出的所述滑尺相对所述本尺的移动位置上的、所述本尺的热膨胀量,通过该热膨胀量修正通过所述编码器检测出的所述滑尺相对所述本尺的移动位移量。
根据这样的构成,本尺的温度和检测温度的同时由编码器检测出的滑尺相对本尺的移动位移量,作为本尺的温度信息存储到温度信息存储部。接着,运算部基于存储在温度信息存储部的本尺的温度信息,计算滑尺的移动位置的本尺的热膨胀量,从滑尺的相对本尺的移动位移量减去本尺的热膨胀量,从而修正因本尺的热膨胀而导致的测量误差。因此,可避免因本尺的热膨胀而导致的测量误差,从而更高精度的测量变为可能。
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