[发明专利]用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法及其系统有效
| 申请号: | 200710141838.2 | 申请日: | 2007-08-13 |
| 公开(公告)号: | CN101159156A | 公开(公告)日: | 2008-04-09 |
| 发明(设计)人: | 游志青 | 申请(专利权)人: | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G11B20/10 | 分类号: | G11B20/10 |
| 代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 任默闻 |
| 地址: | 台湾省新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用来 微调 光学 存储 装置 写入 策略 参数 方法 及其 系统 | ||
1.一种用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,所述方法包含以下步骤:
检测多个长度,每一长度对应于通过所述光学存储装置所存取的光学存储媒体上的一凹坑或一平面;
进行对应于多个数据集类型的计算,以及产生分别对应于所述多个数据集类型的多个数据到时钟边沿偏差,其中所述多个数据集类型至少包含凹坑平面凹坑数据集类型或至少包含平面凹坑平面数据集类型;以及
使用所述多个数据到时钟边沿偏差来微调所述多个写入策略参数,其中所述多个写入策略参数分别对应于所述多个数据集类型。
2.如权利要求1所述的用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,检测所述多个长度的步骤进一步包含:
依据存取所述光学存储媒体的所述光学存储装置所产生的再生信号来检测所述多个长度。
3.如权利要求2所述的用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,检测所述多个长度的步骤进一步包含:
分切所述再生信号以产生分切信号;以及
检测所述分切信号的多个上升沿与多个下降沿之间的多个间距或所述分切信号的多个下降沿与多个上升沿之间的多个间距,来作为所述多个长度,其中每一间距对应于一凹坑或一平面。
4.如权利要求3所述的用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,进行对应于所述多个数据集类型的计算以及产生分别对应于所述多个数据集类型的所述多个数据到时钟边沿偏差的步骤进一步包含:
计算多个数据到时钟边沿长度,每一数据到时钟边沿长度为第一参考时钟的上升沿或下降沿以及所述分切信号的上升沿或下降沿之间的间距;以及
计算多个差值以产生分别对应于所述多个数据集类型的所述多个数据到时钟边沿偏差,每一差值为数据到时钟边沿长度与目标数据到时钟边沿长度之间的差值,其中所述目标数据到时钟边沿长度为对应于特定数据集类型的预定值、或为对应于所述特定数据集类型的多个数据到时钟边沿长度的平均值。
5.如权利要求4所述的用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,所述方法进一步包含:
依据所述分切信号来产生所述第一参考时钟。
6.如权利要求5所述的用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,依据所述分切信号来产生所述第一参考时钟的步骤进一步包含:
利用锁相环来产生所述第一参考时钟,
且检测所述多个长度的步骤进一步包含:
依据所述第一参考时钟来检测所述多个长度。
7.如权利要求5所述的用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,依据所述分切信号来产生所述第一参考时钟的步骤进一步包含:
利用锁相环来产生所述第一参考时钟,
且检测所述多个长度的步骤进一步包含:
使用振荡器来产生第二参考时钟;以及
依据所述第二参考时钟来检测所述多个长度。
8.如权利要求2所述的用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,检测所述多个长度的步骤进一步包含:
对所述再生信号进行取样以产生数字信号;以及
当所述数字信号的值跨越预定值时,检测多个时间点之间的间距,以产生所述多个长度,其中每一间距对应于一凹坑或一平面。
9.如权利要求8所述的用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,进行对应于所述多个数据集类型的计算以及产生分别对应于所述多个数据集类型的所述多个数据到时钟边沿偏差的步骤进一步包含:
当所述数字信号的值跨越所述预定值时,计算所述多个时间点附近的所述数字信号的值与所述预定值之间的多个差值,以产生所述多个数据到时钟边沿偏差。
10.如权利要求8所述的用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,对所述再生信号进行取样的步骤进一步包含:
依据参考时钟来对所述再生信号进行模数转换,以产生所述数字信号;以及
使用锁相环,依据所述数字信号来产生所述参考时钟。
11.如权利要求1所述的用来微调光学存储装置的写入策略参数的方法,其特征在于,所述方法进一步包含:
在系统或芯片上自动地微调所述多个写入策略参数。
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