[发明专利]成像设备和充电偏压调整方法有效
| 申请号: | 200710140243.5 | 申请日: | 2007-08-06 | 
| 公开(公告)号: | CN101118400A | 公开(公告)日: | 2008-02-06 | 
| 发明(设计)人: | 石桥均;藤森仰太;长谷川真;平山裕士;竹内信贵;加藤真治;田中加余子;渡边直人;富田健太郎;小松原悟;小菅明朗 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 | 
| 主分类号: | G03G15/02 | 分类号: | G03G15/02 | 
| 代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 赵蓉民 | 
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 成像 设备 充电 偏压 调整 方法 | ||
技术领域
【001】本发明涉及成像设备和充电偏压调整方法。
背景技术
【002】诸如复印机、打印机以及传真机等成像设备配备有图像在其上形成的图像载体、充电器等。成像设备在图像载体上形成静电潜像,该静电潜像对应于通过光扫描获取或从主机发出的图像信息。静电潜像显影为可视图像,之后被转印至记录介质(如纸张)。
【003】在成像前,充电器均匀充电图像载体的表面。已知充电方法包括使用电晕充电器等的非接触充电法以及充电辊接触图像载体的辊充电法或接触充电法。
【004】相关技术的充电辊包括提供于金属芯上的弹性层和高电阻率层。在金属芯上施加电压以允许充电辊给图像载体的表面充电。近年来,由于与非接触电晕充电法相比产生的臭氧较少,所以优选使用接触充电法。
【005】但是,在接触充电法中,图像载体可能粘有可引起图像载体表面充电不均匀的碎屑(如墨粉、纸粉等)。因此,提出了非接触的辊充电法,其中位于图像载体和充电辊间的小缝隙内引起放电。
【006】向充电辊施加充电偏压的方法包括直流电(DC)施加法和交流电(AC)施加法。DC施加法中使用以恒定电压法控制的DC电压(恒定电压控制的DC电压)。AC施加法中,恒定电压法控制的AC电压(恒定电压控制的AC电压)或恒定电流法控制的AC电压(恒定电流控制的AC电压)与恒定电压控制的DC电压交迭。
【007】在AC施加法中,有必要考虑充电辊的表面电阻的变化。例如,充电辊的表面电阻增大时很难引起放电。相反,充电辊的表面电阻减小时,放电量增加,且加速图像载体的磨损。另外,放电产物可产生高温及高湿度环境中的图像失真。因此,有必要根据AC施加法中充电辊属性的变化调整AC电压的峰间电压(peak-to-peak voltage)。
【008】作为示例,提出了以下的充电偏压调整方法:DC电压施加于充电辊时,放电至图像载体开始的电压被称为放电启动电压或充电启动电压Vth。未进行成像时,施加峰间电压小于两倍放电启动电压Vth的至少一AC电压值于充电辊,并测量提供的AC值。另外,未进行成像时,施加具有大于或等于两倍放电启动电压Vth的不同峰间电压的至少两个AC电压值至充电辊并分别测量提供的AC值。基于所测AC值,在后续的成像中调整施加于充电辊的AC电压的峰间电压。
【009】非接触的辊充电法中,有必要考虑影响放电的缝隙尺寸变化。
【010】在调整充电偏压的一个方法中,施加具有不同峰间电压的恒定电压控制的AC电压至充电辊,并测量提供至充电辊的电流值。图像载体的表面电势变成和施加至充电辊的DC电压基本相等时提供至充电辊的电流被称为饱和电流值。调整峰间电压到这样一个值:使得提供至充电辊的电流值变为饱和电流值(实际值)。
【011】图1示出了调整AC电压的峰间电压的相关技术方法的过程。在S101处,施加具有一定峰间电压的AC电压至充电构件作为充电偏压,并测量提供至充电构件的AC值。在S102处,确定所测电流值是否处于目标范围内。如果所测电流值不在目标范围内,在S103处施加具有不同峰间电压的AC电压至充电构件,并测量提供至充电构件的AC值。重复S102和S103直至获得处于目标范围内的提供的AC值。上述调整过程在成像设备的预热时间期间执行。
发明内容
【012】本文公开的各种示例性实施例描述了成像设备。
【013】在示例性实施例中,成像设备包括被配置为运载图像的图像载体和施加有与AC电压交迭的直流电压作为给图像载体充电的充电偏压的充电器。充电器的位置接触或不接触图像载体。AC电压调整中施加于充电器的AC电压不小于图像载体开始充电的充电启动电压Vth的两倍。
【014】在示例性实施例中,成像设备包括被配置为运载图像的图像载体、施加有与AC电压交迭的直流电压作为给图像载体充电的充电偏压的充电器以及控制器。充电器的位置接触或不接触图像载体。控制器被配置为通过执行包括探测施加于充电器的AC电压输出值、确定探测的输出值是否在目标范围内并在探测的输出值不在目标范围内时切换交流电的序列来调整AC电压。控制器在AC电压的调整中执行该序列至少一次,并执行调整多次直至探测的输出值处于目标范围内。
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