[发明专利]检测结构以及检测方法

说明书

技术领域

本发明有关于一种检测结构以及检测方法。

背景技术

请参阅图1，图1为现有检测结构10的示意图，现有用以检测图像传感器20的检测结构10包括平行光源11、电路板12、针脚13以及缺口14，图像传感器20通过检测板22以电连接的方式设置于晶片21上，电路板12与针脚13电连接，并且电路板12上设有缺口14以作为光束通道，平行光源11与图像传感器20分别相对应地设于电路板12的上、下二侧，当利用检测结构10检测图像传感器20时，平行光源11会先发出一平行光，该平行光以图1中箭头A方向进入缺口14中，另外检测结构10的针脚13会与检测板22电连接，而图像传感器20接收到光信号后，会产生一电信号，通过针脚13将此电信号回传至检测结构10的电路板，借以判定图像传感器20是否能够正常使用。

现有检测结构10在提供检测时通常提供平行光进入图像传感器20中，然而，平常使用者在使用图像传感器20时，外在环境的光线条件不可能为检测时的平行光，故利用现有检测结构10检测出的结果，并不能贴近一般使用状态下的结果，即现有检测结构10无法仿真图像传感器在最终端使用时的光源，导致检测结果有误差或是在使用图像传感器20前必须重新调校。

发明内容

本发明提供一种检测结构，用以检测图像传感器，图像传感器电连接于晶片上并且图像传感器与晶片之间设有检测板，检测结构包括平行光源、针脚以及滤光片，平行光源发射平行光，针脚与检测板电连接，滤光片位于平行光源以及针脚之间，其中，平行光源发射的平行光通过滤光片到达晶片以及图像传感器上。

上述的检测结构，其中优选地，其还包括一承载件，该承载件位于该滤光片以及该针脚之间。

上述的检测结构，其中优选地，其还包括一透镜，该透镜通过该承载件设置于该滤光片以及该针脚之间。

上述的检测结构，其中优选地，该承载件包括一调节机构，该调节机构包括一容置槽以及一微调螺丝，该容置槽用以容置该透镜，并且该微调螺丝与该透镜连接，转动该微调螺丝时可使该透镜移动。

上述的检测结构，其中优选地，该容置槽的孔径略大于该透镜的直径。

上述的检测结构，其中优选地，其还包括一电路板，该电路板与该针脚电连接。

本发明还提供一种检测方法，用以检测图像传感器，图像传感器电连接于晶片上，并且图像传感器与晶片之间设有检测板，检测方法的步骤包括提供一检测结构，该检测结构包括一平行光、一针脚、一滤光片以及一透镜；使该平行光通过该滤光片；通过该滤光片后的该平行光变成一漫射光；以及成像于该图像传感器上。

上述的检测方法，其中优选地，检测方法的步骤还包括使漫射光通过透镜。

上述的检测方法，其中优选地，检测方法的步骤还包括使针脚与检测板电连接。

通过本发明的检测方法，可仿真图像传感器在终端使用时的自然光(漫射光)，仿真终端使用环境来检测以增加检测的准确性，另外，由于图像传感器在终端使用时常常与透镜一起搭配使用，故使漫射光再通过透镜，可更加贴近图像传感器在终端使用的环境，增加检测时的准确性。

附图说明

图1为现有检测结构的示意图；

图2为本发明检测结构的示意图；

图3为本发明检测结构的另一实施例示意图；

图4为本发明的承载件及透镜的另一实施例示意图；

图5为应用本发明检测结构检测方法的流程图。

其中，附图标记说明如下：

现有技术：

10～检测结构       11～平行光源        12～电路板

13～针脚           14～缺口            20～图像传感器

21～晶片           22～检测板

本发明：

20～图像传感器     21～晶片            22～检测板

30、40～检测结构   31、41～平行光源    32、42～电路板

33、43～针脚       34、44～滤光片      45、55～透镜

46、56～承载件     562～调节机构       563～容置槽

564～微调螺丝      D1～孔径            D2～直径

B、C～箭头

具体实施方式

为让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举出较佳实施例，并配合附图，作详细说明如下：