[发明专利]半导体装置有效

专利信息
申请号: 200710138840.4 申请日: 2007-06-15
公开(公告)号: CN101090114A 公开(公告)日: 2007-12-19
发明(设计)人: 鹰巢博昭;山本祐广 申请(专利权)人: 精工电子有限公司
主分类号: H01L27/04 分类号: H01L27/04;H01L23/544
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 张雪梅;刘宗杰
地址: 日本千叶*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,包括:

硅衬底;和

布置在硅衬底上的多个IC芯片,每个IC芯片包含晶体管和用于探测的焊垫区;

与该多个IC芯片相邻的划片区;和

在划片区或所述多个IC芯片中提供的用于在探测时检测位移的图案,所述图案包括多个微小导体,所述多个微小导体被保护膜覆盖以电隔离所述多个微小导体,

其中所述多个微小导体的每一个是彼此电绝缘的并且小于探针尖端,所述探针用于对该多个IC芯片进行探测。

2.根据权利要求1的半导体装置,其中分别为该多个IC芯片中的每个提供一对所述图案。

3.根据权利要求1的半导体装置,其中,为待同时探测的所有该多个IC芯片提供一对所述图案。

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