[发明专利]质谱仪有效

专利信息
申请号: 200710137065.0 申请日: 2007-07-19
公开(公告)号: CN101110336A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: 西口克;山口真一;丰田岐聪 申请(专利权)人: 株式会社岛津制作所;国立大学法人大阪大学
主分类号: H01J49/40 分类号: H01J49/40;H01J49/06;G01N27/62
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 宋焰琴
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 质谱仪
【权利要求书】:

1.一种多重轮回飞行时间质谱仪或傅立叶变换质谱仪,其中通过包括多个扇形电场的电场的影响作用,使离子沿闭合环行轨道反复飞行,以根据离子的质荷比分离所述离子,

由产生所述电场的离子光学系统创建的环行轨道满足作为时间聚焦条件的如下等式:

(t|x)=(t|α)=(t|δ)=0

并且满足作为空间聚焦条件的如下等式:

-2<(x|x)+(α|α)<2

-2<(y|y)+(β|β)<2

通过如下方法表示所述离子光学系统中的离子轨道:

假设离子从入射面入射,经过所述离子光学系统输送,从出射面射出;

将具有特定能量的基准离子的轨道定义为中心轨道;

从入射面入射的、初始值与基准离子的初始值不同的离子具有相对于出射面上的中心轨道的位移;以及

所述位移由如下一阶近似方程表示:

x=(x|x)x0+(x|α)α0+(x|δ)δ

α=(α|x)x0+(α|α)α0+(α|δ)δ

y=(y|y)y0+(y|β)β0

β=(β|y)y0+(β|β)β0

t=(t|x)x0+(t|α)α0+(t|δ)δ

x0和α0分别用作与入射面处环行轨道平面内的中心轨道正交的方向上的位置偏离量和相对于该中心轨道的角度或飞行方向偏离量;参数y0和β0分别用作与垂直于入射面处环行轨道平面的平面内的中心轨道正交的方向上的位置偏离量和相对于该中心轨道的角度偏离量;参数x和α分别用作与出射面处环行轨道平面内的中心轨道正交的方向上的位置偏离量和相对于该中心轨道的角度偏离量;参数y和β分别用作与垂直于出射面处环行轨道平面的平面内的中心轨道正交的方向上的位置偏离量和相对于该中心轨道的角度偏离量;参数δ用作入射面处的能量偏离量;参数t表示在与中心轨道平行的方向上、给定离子相对于基准离子的飞行距离偏离量,并与相对于基准离子的飞行时间偏离相对应;(x|x)、(x|α)、(x|δ)、(α|x)、(α|α)、(α|δ)、(y|y)、(y|β)、(β|y)、(β|β)、(t|x)、(t|α)和(t|δ)用作所述离子光学系统的常数,每个均由括号中指示的元素确定,这些常数表示所述离子光学系统的特性。

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