[发明专利]相差检测装置、相差检测方法、再生装置及跟轨控制方法

说明书

相关申请的交叉参考

本发明包含于2006年7月14日向日本专利局提交的日本专利申请第2006-194656号的主题，其全部内容结合于此作为参考。

技术领域

本发明涉及用于检测两个输入信号之间相差的相差检测装置和方法。本发明还涉及用于至少对光盘记录介质执行再生的再生装置以及用于诸如刚刚提及的再生装置的跟轨控制方法。

背景技术

在相关技术中，DPD(微分相位检测)方法作为诸如DVD(数字通用光盘)、BD(蓝光光盘：注册商标)等的光盘记录介质的伺服技术被广泛地了解。DPD方法利用当激光点偏离光盘记录介质上的轨道的中心位置时在来自包括至少两个检测元件的检测器的检测信号之间出现相差的情况。

具体地，根据现有DPD方法，如图2所示的四元件检测器11通常用于检测来自单独位于对角位置的[检测器元件A，检测器元件C]和[检测器元件B，检测器元件D]的检测信号的和数分量之间的相差。

图12A和12B示出了以如上所述的DPD方法在两个信号A+C和B+D之间的相差(相位差)与轨道位移之间的关系。

应当注意，图12A和12B示出了波形A+C和波形B+D之间的关系以及多个波形之间的相位关系和轨道位移之间的关系，其中，在检测器中，与图2所示的四元件检测器11的情况相同，以光盘旋转方向(轨道纵向)的顺序排列检测器元件A和D及检测器元件B和C，并且以跟轨控制方向(轨道横向)的顺序排列检测器元件A和B及检测器元件D和C。

如图12A所示，波形A+C和B+D之间不存在相差的状态为不存在轨道位移的状态(即，恰好跟轨的状态)。

另一方面，如图12B所示的波形之间出现相差的状态为出现一些轨道位移的状态(即，激光点偏离轨道中心的状态)。例如，如图12B所示，在波形A+C的相位相对于波形B+D的相位超前的状态下，将激光点移动至在其上形成图2所示的检测器元件B和C的一侧。此外，尽管未示出，但是在波形B+D的相位相对于波形A+C的相位超前的状态下，将激光点移动至在其上形成检测器元件A和D的一侧。

图13示出准备在其中使用上述四元件检测器11的情况的现有跟轨误差信号生成部50的结构实例。

首先，将来自图2所示的四元件检测器11中的检测器元件A和C的检测信号的相加结果A+C以及来自检测器元件B和D的检测信号的另一相加结果B+D输入到跟轨误差信号生成部50。作为用于输入相加结果A+C和B+D以生成跟轨误差信号的结构，跟轨误差信号生成部50包括均衡器51a和51b、零交叉定时检测部52a和52b、相差比较部53、低通滤波器54a和54b、和微分放大器55。

如图13所示，将相加结果A+C输入到均衡器51a，以加重其高频分量。随后，将得到的相加结果A+C提供给零交叉定时检测部52a，以检测其零交叉定时。

此外，类似于相加结果A+C，将相加结果B+D输入到均衡器51b，以加重其高频分量。随后，将得到的相加结果B+D提供给零交叉定时检测部52b，以检测其零交叉定时。

将通过零交叉定时检测部52a和52b检测的零交叉定时的检测信号提供给相差比较部53。相差比较部53将由零交叉定时检测部52a提供的零交叉定时A+C与由零交叉定时检测部52b提供的零交叉定时B+D相互比较。随后，在零交叉定时A+C早于零交叉定时B+D(即，相位A+C相对于相位B+D超前)的情况下，输出正(+)脉冲，相反，在零交叉定时B+D早于零交叉定时A+C(即，相位B+D相对于相位A+C超前)的情况下，输出负(-)脉冲。

如图13所示，来自相差比较部53的+脉冲和-脉冲被分别提供给低通滤波器54a和54b。低通滤波器54a和54b仅使来自相差比较部53的输入信号的低频分量通过，并将低频分量输出至微分放大器55。微分放大器55计算来自低通滤波器54a和54b的输入信号之差，并输出计算结果作为跟轨误差信号。

通过如上所述的结构，在来自相差比较部53的输出中+脉冲数相对较大的情况下(即，在相位A+C超前的比率较高的情况下)，从微分放大器55输出具有+极性的跟轨误差信号。另一方面，在-脉冲数相对较大的情况下(即，在相位B+D超前的比率较高的情况下)，从微分放大器55输出具有-极性的跟轨误差信号。