[发明专利]只读存储器数据修补电路和方法、及其嵌入式系统有效
申请号: | 200710129228.0 | 申请日: | 2007-02-25 |
公开(公告)号: | CN101075213A | 公开(公告)日: | 2007-11-21 |
发明(设计)人: | 韩东熙 | 申请(专利权)人: | 三星电子株式会社 |
主分类号: | G06F12/06 | 分类号: | G06F12/06 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人: | 邵亚丽 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 只读存储器 数据 修补 电路 方法 及其 嵌入式 系统 | ||
1.一种只读存储器ROM数据修补电路,用于基于修补信息利用N个随机存取存储器RAM修补块中存储的修补数据来替换N个修改ROM数据块中存储的ROM数据,N为自然数,该ROM数据修补电路包括:
数据修补检测单元,被配置为生成N个偏移选择信号和地址选择信号,所述N个偏移选择信号指明ROM读取地址属于N个修改ROM数据块中的哪一个,该地址选择信号表示ROM读取地址是否属于N个修改ROM数据块中的任意一个;
RAM地址生成单元,被配置为基于偏移选择信号而生成与该ROM读取地址对应的RAM读取地址;以及
地址选择单元,被配置为基于地址选择信号输出ROM读取地址和RAM读取地址之一,
其中所述修补信息包括所述N个修改ROM数据块的N个起始地址、N个数据块长度、N个偏移量以及用于控制修补操作的修补使能信号,所述N个偏移量中的每个表示修改ROM数据块地址与对应的RAM修补块地址之间的差值;
其中,当ROM读取地址属于N个修改ROM数据块中的任意一个而且修补使能信号为逻辑高时,所述地址选择信号为逻辑高;当ROM读取地址不属于N个修改ROM数据块中的任意一个或者修补使能信号为逻辑低时,所述地址选择信号为逻辑低;以及
其中,当地址选择信号为逻辑低时,所述地址选择单元被配置为输出ROM读取地址,而当地址选择信号为逻辑高时,所述地址选择单元被配置为输出RAM读取地址。
2.如权利要求1所述的ROM数据修补电路,其中所述数据修补检测单元包括:
N个比较器单元,被配置为用来分别生成偏移选择信号,当ROM读取地址属于对应的修改ROM数据块时,该偏移选择信号为逻辑高,而当ROM读取地址不属于对应的修改ROM数据块时,该偏移选择信号为逻辑低;
或门,被配置为对所述N个比较器单元生成的所述N个偏移选择信号执行或操作;以及
第一与门,被配置为对该或门的输出信号和该修补使能信号执行与操作,以生成该地址选择信号。
3.如权利要求2所述的ROM数据修补电路,其中所述N个比较器单元中的第K比较器单元,K为自然数,包括:
下限比较器,被配置为当ROM读取地址不小于N个起始地址中的第K起始地址时,输出逻辑高的第一信号;
加法器,被配置为输出第K起始地址和N个数据块长度中的第K数据块长度之和;
上限比较器,被配置为当ROM读取地址不大于加法器的输出时,输出为逻辑高的第二信号;以及
第二与门,被配置为对该第一信号与该第二信号执行与操作,以生成N个偏移选择信号中的第K偏移选择信号。
4.如权利要求1所述的ROM数据修补电路,其中所述RAM地址生成单元包括:
偏移选择器,被配置为基于所述N个偏移选择信号而输出该N个偏移量中的、与ROM读取地址所属的修改ROM数据块对应的偏移量;以及
偏移加法器,被配置为通过将ROM读取地址与从偏移选择器输出的偏移量相加,而输出RAM读取地址。
5.如权利要求1所述的ROM数据修补电路,其中当该修补使能信号为逻辑低时,所述地址选择单元被配置为选择并输出ROM读取地址,而不考虑该ROM读取地址是否属于N个修改ROM数据块中的任意一个。
6.如权利要求1所述的ROM数据修补电路,其中所述地址选择单元包括多路复用器,该多路复用器被配置为基于地址选择信号而输出ROM读取地址和RAM读取地址之一。
7.如权利要求1所述的ROM数据修补电路,进一步包括用于存储该修补信息的寄存器。
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