[发明专利]固态成像器件、驱动固态成像器件的方法和拍摄装置

说明书

技术领域

本发明涉及固态成像器件、驱动固态成像器件的方法和拍摄装置。

背景技术

在固态成像器件中，暗缺陷(dark defect)现象是个问题。公开了下面的技术作为避免暗缺陷现象的技术(例如，见JP-A-2004-248304(专利文献1))。

该技术是使用用于校正依靠检测电路的输出，执行差分处理的结果(event)的装置的技术。如图9所示，通常，在由用于光电转换的装置完成的光电转换中产生信号，该信号输入到放大器晶体管以输出信号Vs。信号Vs包含由光电转换所产生的信号和复位信号Vn。因此，当差分放大器读取信号Vs作为光电转换所产生的信号时，从信号Vs中减去噪声成分的复位信号Vn，以输出由光电转换所产生的信号作为信号Vs-Vn。

然后，当入射光量比B点处的入射光量强时，信号饱和，输出常数值。当强得多的光进入时，复位电平Vn改变了，使得信号Vs-Vn变小。这就成为暗缺陷现象。

更具体地，当非常强的光进入光电转换部分时，由于漏光，漏光噪声信号增加到在放大器晶体管输入部分的噪声成分的复位信号。在入射光量比C点强的区域中的状态下，差分放大器的输出Vs-Vn变小。当漏光噪声信号Vn饱和时，差分放大器信号的输出Vs-Vn变为零。这种状态意味着即使对确实明亮的被摄体成像，暗缺陷现象也会出现，其中图像变暗。

利用该特性以判断来自Vn变化的区域的光、以及来自Vs饱和的区域的光是否很强。这足够光检测电路判断信号是否在此校正。如图10中所示，当校正信号时，有一个方案，在该方案中在模拟-数字转换器电路A/D之前校正信号，而不执行差分处理。另外，如图11中所示，当读取存储模拟-数字转换器电路A/D的值的存储器时，有一个方案，在该方案中转换器电路校正信号，以输出该信号，转换器电路校正依靠亮度级检测电路的输出执行差分处理的结果。

在图10中所示的技术中，当检测到暗缺陷以在模拟-数字转换器电路A/D之前校正信号时，必须提供校正信号电路例如恒定电压电路，而不是检测电路，这导致作为暗缺陷校正电路配置的电路规模增加。

在图11中所示的技术中，必须提供中断进入存储器的校正信号的电路，这也导致电路规模的增加。在每条信号线内执行模拟-数字转换的电路系统中，该区域受到了极大影响。

在以前的任何技术中，为了检测暗缺陷，必须额外提供专门用于检测暗缺陷的亮度级检测电路。另外，因为必须在模拟信号路径中提供模拟读出(sense)检测电路，所以又出现模拟信号本身可能受到不利影响的问题。

发明内容

本发明处理与现有技术相关的上述问题以及其它问题，在现有技术中，因为必须额外提供专门用于检测暗缺陷的亮度级检测电路，所以电路配置是大规模的，并且因为必须在模拟信号路径中额外提供模拟读出检测电路，所以模拟信号本身可能受到不利影响。

期望通过额外提供不影响模拟信号的简单电路配置，来防止发生暗缺陷现象。

本发明的实施例是一种固态成像器件，包括：按照列并行排列的模拟-数字转换器单元，该模拟-数字转换器单元具有多个像素，其被排列来转换入射光量为电信号，其中从像素获取的模拟信号被转换为数字信号；其中模拟-数字转换器单元配置有：比较器，其可操作以比较列信号线的数值与参考线的数值，其中从列信号线输出由像素获取的模拟信号；计数器，其可操作以测量当由比较器所作的比较完成时的时间段，并且存储比较结果，其中固态成像器件还包括：用于控制比较器输出的装置，其可操作以依靠比较器的输出来控制比较器的输出。

根据本发明的实施例，暗缺陷检测本身由比较器来执行，该比较器是按照列并行排列的模拟-数字转换器单元的组件，并且仅通过额外提供用于控制比较器输出的装置来防止暗缺陷现象，该装置可操作以依靠比较器的输出来控制比较器的输出。因此，与以前必须提供专门使用的检测电路的技术相比，具有电路配置简化的优势。另外，因为在模拟区域内不额外提供电路，所以还具有模拟信号不会受到不利影响的优势。

附图说明

图1显示描绘本发明的实施例(第一实施例)的方框图；

图2显示描绘单位像素的示例性电路配置的电路图；

图3显示描绘比较器的示例性电路配置的电路图；

图4显示描绘用于控制比较器输出的装置的示例性电路配置的电路图；

图5显示描绘第一实施例的时序图；

图6显示描绘本发明的实施例(第二实施例)的方框图；

图7显示描绘第二实施例的时序图；

图8显示描绘用于校正的装置的示例性电路配置的电路图；