[发明专利]图像显示装置无效
| 申请号: | 200710128827.0 | 申请日: | 2007-05-25 |
| 公开(公告)号: | CN101082718A | 公开(公告)日: | 2007-12-05 |
| 发明(设计)人: | 驹寿学 | 申请(专利权)人: | NEC液晶技术株式会社 |
| 主分类号: | G02F1/133 | 分类号: | G02F1/133;G02F1/13;H01J17/49 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 王波波 |
| 地址: | 日本神*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 图像 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种图像显示装置,例如液晶显示(LCD)装置和等离子体显示装置。更具体地,本发明涉及一种图像显示装置,具有包括以矩阵阵列排列的像素的显示部分和其中安装了驱动器IC(集成电路)或驱动半导体装置的布线端子部分。将用于安装驱动器IC的安装电极和用于测试显示部分缺陷的测试电极形成在布线端子部分中。
背景技术
在最近几年中,LCD装置已经广泛地用作高分辨率显示器或图像显示装置。通常,LCD装置包括:基底(其将被称为TFT基底),在所述基底上形成例如薄膜晶体管(TFT)的开关元件;另一个基底(其将被称为CF基底),在所述另一个基底上形成滤色器、黑矩阵等;和设置在TFT基底和CF基底之间的液晶层。液晶分子的定向通过TFT基底上形成的电极和CF基底上形成的电极两端、或TFT上形成的电极两端施加的电场来改变,由此控制每一个像素中透射光的量来显示图像。
称为“显示部分”的LCD装置的用于显示图像的部分或区域包括以矩阵阵列排列的多个像素。在显示部分中,通常将例如栅电极线(或扫描线)、漏电极线(或信号线)、公共电极线等之类的各种布线形成在TFT基底上。
LCD装置包括形成在显示部分外部的“布线端子部分(wiringterminal section)”,所述布线端子部分是用于连接驱动液晶的驱动器IC(即,驱动半导体装置)的部分或区域。在布线端子部分中,形成引导线(leading line)以将驱动器IC与设置在显示部分中的布线电连接。形成在显示部分中的布线在下文将被称为“内部布线”。典型的是将配置用于形成带式封装(TCP)的驱动器IC通过带式自动接合(TAB)方法与引导线的末端相连。
顺便提及,在最近几年中,其中用于驱动液晶的驱动器IC直接安装在TFT基底上的玻载芯片(COG)型LCD装置已经研发并且变得商业上有用。COG型LCD装置具有的优点在于与其中驱动器IC通过TAB方法安装在TFT基底上的常规LCD装置相比,可以实现厚度和重量的减小。利用COG型LCD装置,用于在引导线和驱动器IC之间电连接的多个安装电极或焊盘形成在各个引导线的中点处。此外,用于测试显示部分缺陷的多个测试电极形成为与相应的安装电极相邻。测试电极与相应的安装电极电连接,换句话说,测试电极与安装电极一一对应地形成。
图2是示出了现有技术COG型LCD装置的布线端子部分的示意结构的局部平面图。图1是沿图2的线I-I得到的局部截面图。
如图2所示,现有技术COG型LCD装置包括显示部分111和布线端子部分112。显示部分111是用于显示图像的部分或区域并且包括以矩阵阵列排列的多个像素。设置在显示部分111外部的布线端子部分112是其上安装了驱动液晶的驱动器IC并且与柔性印刷电路(FPC)相连的部分或区域。
在布线端子部分112中,形成多个引导线123以将显示部分111中的布线(即内部布线)向外引导到布线端子部分112,以及将内部布线电与驱动器IC和FPC(都没有示出)电连接。如图2所示,这些引导线123通过在TFT基底120上的布线端子部分112中形成的安装区域124延伸到TFT基底120与显示部分111相对的末端附近。安装区域124配置用于安装驱动器IC。
在图2中,仅示出了13根引导线123。用于测试显示部分111缺陷的测试电极或焊盘126配置在各个引导线123的末端处。用于安装驱动器IC的安装电极或焊盘125配置在与相应的测试电极126相邻的各个引导线123上。配置在相同引导线123上的安装电极125和测试电极126通过这两个电极125和126之间的那部分线123彼此电连接。
在图2中,将配置在引导线123上的安装电极125和测试电极126以及配置在相邻引导线123上的安装电极125和测试电极126沿它们的延伸方向(即图2中的垂直方向)移动预定距离,导致整体上的Z字形图案。引导线123的结构与它们的相应安装和测试电极125和126相同。
安装电极125用于将引导线123与具有非对称导电膜(ACF)的驱动器IC的相应隆起焊盘(bump)(未示出)电连接,其中将所有的安装电极125放置在用于驱动器IC的安装区域124中。测试电极126用于测试显示部分111的缺陷,其中将所有的测试电极126放置在安装区域124的外部。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于NEC液晶技术株式会社,未经NEC液晶技术株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
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