[发明专利]验钞的方法和设备

说明书

技术领域

本发明涉及验钞的方法和设备。

背景技术

众所周知的是，通过测量钞票的光学特性验钞，以及处理测量结果和验收 标准，以确定钞票是否属于预定的类别或面额。扫描钞票，并将反射光或透射 光，或两者，用于测量光学特性。可以测量在不同光波长下(其中部分或全部 可以是不可见光)，钞票的特性。

例如发射器或传感器的设备元件的特性可能随设备和时间而不同。因此， 不能依赖于设备的传感器给出稳定且可预知的测量结果。

众所周知，通过频繁校准设备可缓解这种问题。可使用各种校准技术。例 如，在反射系统中，反射表面可位于与发射器和传感器相反的钞票路径的一侧， 以便当没有钞票出现时，通过照射该表面和检测反射到传感器的光量进行校准 测量。该校准测量可用于调整发射器发射的光的强度和/或施加于传感器信号的 增益，以便获得预定的测量结果。

该技术不能容易地适用于测量钞票的透射光的系统，因为参考表面会干扰 光路。一种解决方法在EP-A-0731737中公开，其中包含可移动的参考表面。 另一种解决方法是，参考表面可以采用校准层的形式，当进行校准测量时，校 准层移入钞票路径。

EP-A-0679279公开了一种设备，用于检测伪钞，其中钞票手动扫过光发 射器和容纳在具有玻璃窗的单元中的传感器。在该设置中，通过检测从窗口内 部反射的辐射量监视灯的光强。但是，这种设置也不适用于透射系统。

这些校准技术还存在许多缺陷。例如，当使用校准层时，校准操作需要手 动执行，这在需要频繁校准的场合是不方便和不适当的，或者，如果校准操作 自动执行，则需要复杂的层驱动结构。另外，校准技术依赖于具有稳定光学特 性的参考表面，而情况并非总是如此；例如，由于被灰尘污染等，光学特性会 改变。

众所周知，通过执行传感器测量结果的标准化可缓解元件差异的问题。例 如参见EP-A-0560023。沿着各个不同的轨道，扫描每张钞票。在每个轨道中， 对于测量的每种颜色，相同的元件用于进行整个轨道上的测量。通过采用测量 结果与沿着钞票的整个扫描轨道的相同颜色的测量结果之和的比，使测量结果 标准化(“空间标准化”)。因此，元件差异的影响可以减小。

但是，这种空间标准化测量相对于不同颜色的相对数量来说是不灵敏的， 因此不适用于钞票的精确鉴别。因此，还通过另一种技术对测量结果进行标准 化。根据这种技术，通过导出每个测量结果与一特定区域中不同颜色的所有测 量结果的总和的比，将该区域中不同颜色的测量结果标准化。这种“光谱标准 化”技术保持了颜色信息，因此对鉴别是有用的。而且，该技术能有效地使测 量结果对钞票中每个区域的强度不灵敏，因此对钞票上的灰尘量不太敏感。因 此，新的(干净的)和旧的(脏的)钞票会显示较小的测量差量，因此改善了 识别性能。但是，因为光谱标准化测量对元件差异是敏感的，而且因为强度信 息减少，因此测量结果对于确定钞票面额是不利的。

因此，尽管当前的验钞器处理了元件差异的问题，但这些标准化技术和校 准技术均将得益于特别是(但不仅是)透射系统的改善。

发明内容

本发明的各个方面在所附的权利要求中提出。

本发明提供了上述问题的备选解决办法。一种解决方法提供了一种方式， 其中即使在依赖透射技术的设备中也可容易地执行校准测量。另一种解决方法 涉及标准化技术，其减小了上述标准化技术的数据损失，同时提供对元件差异 的补偿。尽管原则上每种技术可有利地使用而不利用其它技术(本发明申请意 图覆盖这种用法)，但是组合使用这些技术仍存在特殊的增效优点，下面进行 说明。

按照本发明的第一方面，验钞器在钞票路径的一侧具有发射器和传感器， 传感器能够利用由发射器发射并由钞票反射(优选散射)回传感器的光进行钞 票光学特性的测量。在钞票路径的另一侧还存在光学装置，能够进行钞票透射 特性的测量。该光学装置可以是第二传感器，用于接收路径另一侧的发射器的 光，或是第二发射器，用于使光穿过钞票透射到路径另一侧的传感器上。该光 学装置具有放在上面的窗口，位于该装置和钞票路径之间。利用路径第一侧的 发射器的光获得校准测量结果，该光穿过钞票路径然后由窗口反射跨过该路径 到达该路径第一侧的传感器上。