[发明专利]高温电容器及其制造方法无效

专利信息
申请号: 200710128289.5 申请日: 2007-04-30
公开(公告)号: CN101067986A 公开(公告)日: 2007-11-07
发明(设计)人: P·C·欧文;Y·曹;Q·谭;A·尤恩西 申请(专利权)人: 通用电气公司
主分类号: H01G4/33 分类号: H01G4/33;H01G4/14;H01G13/00;C23C14/24;C23C14/34;C23C16/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 段晓玲;韦欣华
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 高温 电容器 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种制造电容器(10)的方法,包括:

通过改变分子结构,等离子体处理聚醚酰亚胺膜(22)的表面(24);

金属化该表面(24);

在该聚醚酰亚胺膜上设置电极(20);以及

封装该电容器(10);

其中

聚醚酰亚胺膜(22)具有在300-700kV/mm之间的范围内的击穿电压, 且

所述聚醚酰亚胺膜(22)包含纳米填充物。

2.权利要求1的方法,所述等离子体处理包括化学气相沉积工艺。

3.权利要求1的方法,所述等离子体处理包括在氟化的气氛中等离子 体处理或氩等离子体处理。

4.权利要求1的方法,所述金属化包括聚醚酰亚胺膜(22)的气相沉 积、溅射或电化学沉积工艺。

5.权利要求4的方法,所述气相沉积、溅射或电化学沉积工艺包括用 铝或铜沉积聚醚酰亚胺膜(22)的表面(24)。

6.一种制造电容器(10)的方法,包括:

通过改变分子结构,在氟化的气氛中等离子体处理聚醚酰亚胺膜(22) 的表面(24);

金属化该表面(24);

在该聚醚酰亚胺膜(22)上设置电极(20);以及

封装该电容器(10);

其中

聚醚酰亚胺膜(22)具有在300-700kV/mm之间的范围内的击穿电压, 且

所述聚醚酰亚胺膜(22)包含纳米填充物。

7.权利要求6的方法,该氟化的气氛包括四氟化碳。

8.电容器(10),包括:

由聚醚酰亚胺膜(22)制成的电介质层,该聚醚酰亚胺膜包括至少一个 等离子体处理的表面,其中所述至少一个等离子体处理的表面是氟化表面;

设置在该聚醚酰亚胺膜(22)的该氟化表面上的金属化层(32);以及

设置在该聚醚酰亚胺膜(22)的侧上的电极(20);

其中

该电介质层(22)具有在300-700kV/mm之间的范围内的击穿电压,且

所述电介质层(22)包含纳米填充物。

9.权利要求8的电容器(10),其中该电介质层(22)具有在-50℃至 250℃之间的范围内的操作温度。

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