[发明专利]一种零中频方案指标优化的实现方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种通讯测试领域的方法，具体涉及的是一种零中频方案依频率进行补偿的实现方法。

背景技术

现有技术中，在不降低基站性能的情况下，为了尽可能地减小基站体积，基站的核心单板——TRB单板(Transmit Receive Board，收发信板)，采用了零中频ZIF方案(Zero Intermediate Frequence)。

ZIF方案极大地减小了发射机的体积、重量、功耗和成本。但这项技术也存在很多缺点，如对正交调制信号和正交本振信号的相位和幅度不平衡以及直流偏移失真非常敏感，因此可导致严重的边带和本振泄漏。

3GPP中规定的指标IQ origin offset和EVM分别反映本振泄漏和边带的性能。目前，TRB校准数据优化的方式主要是人工进行，被校准频率点不完全确定，具体可按以下步骤进行：

首先将被测单板TRB、多台测试仪器和测试机搭建好，组成测试环境，如图1所示。其中，从外部输入频率，对所述TRB板形成测试环境，测试仪器具体可以为频谱分析仪或稳压电源等；

其次，检查TRB单板上的指示灯情况，查看连接是否正常；

最后，测试人员在不同的频率下手动调节测试仪器，测量对应的结果。如果结果合适，则将当前结果写入TRB单板的存储单元，否则继续调整，直到找到近似理想值即达到局部最优门限。

显然，上述优化过程存在诸多缺点，至少罗列如下：

一是，工作量繁重：需要人为对TRB单板和多台测试仪器进行大量的设置，设置的过程比较复杂；不同频率下的环境，各种状态也不一致，同时需要对数据进行人工记录、人工分析，存在重复工作的可能性，更会使得工作量异常繁重。

二是，准确性差：测试人员在进行大量的测试时，难免引入人为误差，甚至出现各种操作和记录的失误，准确性难以保证。

三是，一致性差：测试结果取决于测试人员的技术水平和测试经验，不同测试人员的测试结果不同，测试结果一致性很难保证；同时由于人工测量，测试次数也有限，测试结果的通用性也无法完全保证。

四是，测试效率低下：由于是手动设置仪表，设置过程比较缓慢，造成测试效率比较低下。

五是，对人员要求高：最优值的判断需要依靠经验进行设置，测试人员不仅要明白测试仪器的使用，同时要明白TRB单板的一些基本原理，如各接口的功能等，对测试人员的素质有较高的要求。

六是，不能实现一段频率覆盖：由于器件存在频漂，在一个频率下得到的校准数据不能在另一个频率下继续有效，使得TRB单板不能适用一段频率场合。

因此，现有技术存在缺陷，而有待于改进和发展。

发明内容

本发明的目的在于提供一种零中频方案指标优化的实现方法，通过一段频率覆盖IQ origin offset和EVM自动优化，优化零中频ZIF的发射通路边带和本振泄漏，解决现有校准数据优化的自动化程度低的问题。

本发明的技术方案包括：

一种零中频方案指标优化的实现方法，用于收发信板的校准，其包括以下步骤：

A、对测试仪器和收发信板分别进行初始化设置；

B、测试机对不同频率进行本振泄漏和边带的性能校准，获得一组校准数据，并将校准数据保存到所述收发信板的存储单元内；

C、所述收发信机上电后自动根据不同频率选用某一校正频率下的校准数据。

所述的实现方法，其中，所述步骤B还包括：

B1、所述测试机下发未校准的单一特定频率的发信数据到所述收发信板，通过测试仪器获得表征发信通路性能的数据结果，与相应指标数据对比；

B2、调整相应的发信数据直至数据结果达到指标要求，确定调整后的发信数据为该特定频率的校准数据。

所述的实现方法，其中，所述步骤B还包括：选取多个频率点以覆盖一段频率范围，并获得对应的校准数据。

所述的实现方法，其中，所述数据结果为IQ origin offset和EVM数据，所述IQ origin offset数据表征零中频的本振泄漏性能，所述EVM数据表征零中频的边带抑制性能。

所述的实现方法，其中，所述校准数据包括：增益平衡、相位、I路直流偏移和Q路直流偏移。

所述的实现方法，其中，所述测试仪器采用频谱分析仪。

所述的实现方法，其中，所述测试机采用通用计算机或工业控制计算机。

所述的实现方法，其中，所述收发信板设置采用8PSK调制方式，所述频谱分析仪设置采用EVM测试模板。

所述的实现方法，其中，所述步骤B还包括：在所述测试机中同时保存所述校准数据。