[发明专利]集成电路元件测试插座、插座基板、测试机台及其制造方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种集成电路元件测试装置及其制造方法，特别涉及其中的集成电路元件测试插座者。

背景技术

一般集成电路元件在进行终端测试(Final Test)时，集成电路元件的电性接点或接脚需要与测试插座(Socket)中的探针(Pogo Pin)做压合的动作。从而，测试信号可通过探针(Pogo Pin)传至测试台(Tester)而判读集成电路元件的好坏。公知所使用的测试插座(Socket)，其探针是嵌在插座基底而呈悬臂状，测试时，极易因集成电路元件置入测试插座时的方位不正而刮除集成电路元件脚位或焊点上的焊锡而导致使用寿命(Life Time)与良率(Yield)下降以及探针损伤，同时，因探针积蓄过多刮落的焊锡也造成集成电路元件卡料现象。为了解决此问题，先前技术第TW447178号中国台湾专利披露了一种非悬臂式的弹簧探针结构，第TW539128号中国台湾专利中披露一种以弹簧探针为基础的测试插座，第TW485243号中国台湾专利披露一种以弹簧探针为基础的插座基板。前述的先前技术虽然改善了悬臂式探针的不利，然而却仍未解决当集成电路元件放入测试插座时若方位偏差而造成的探针损伤与卡料问题。

发明内容

为了解决上述问题，本发明提供一种集成电路元件测试插座(Socket)，包含插座本体，邻近中央部位形成有凹陷部，并在凹陷部的底部四边、底部两对边或底部两邻边设有多个弹性接触端子。更进一步地，这些多个弹性接触端子的特征是在于其部分或全部的弹性接触端子是以紧密且成对的方式排列。另外，有定位导持承座，容设于该插座本体凹陷部，此定位导持承座具有中央开口，用以接受并导正待测的集成电路元件的方位，在此中央开口的底部形成有多个容许弹性接触端子穿出的端子孔。此外，另有锁合组件与弹性保持组件将定位导持承座限制于凹陷部活动。

因此，本发明的主要目的是提供一种集成电路元件测试插座，可导正待测的集成电路元件的方位以有效解决刮锡问题，且进一步地增加弹性接触端子的使用寿命。

本发明的次要目的是提供一种集成电路元件测试插座，可有效增加测试上的稳定性，且还可以提升测试插座的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种插座基板，其设置有集成电路元件测试插座，可导正待测的集成电路元件的方位以有效解决刮锡问题，且进一步地增加弹性接触端子的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种插座基板，其设置有集成电路元件测试插座，可有效增加测试上的稳定性，且更可以提升测试插座的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种集成电路元件测试机，其设置有集成电路元件测试插座，可有效解决刮锡问题，且进一步地增加弹性接触端子的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种集成电路元件测试机，其设置有集成电路元件测试插座，可有效增加测试上的稳定性，且更可以提升测试插座的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种集成电路元件测试插座的制造方法，此集成电路元件测试插座可导正待测的集成电路元件的方位以有效解决刮锡问题，且进一步地增加弹性接触端子的使用寿命。

本发明的另一目的是提供一种集成电路元件测试插座的制造方法，集成电路元件测试插座可有效增加测试上的稳定性，且更可以提升测试插座的使用寿命。

附图说明

图1A为本发明提出的一种集成电路元件测试插座示意图。

图1B为本发明提出的另一种集成电路元件测试插座示意图。

图1C为本发明提出的另一种集成电路元件测试插座示意图。

图1D为本发明提出的另一种集成电路元件测试插座示意图。

图2A为本发明提出的一种集成电路元件测试插座示意图。

图2B为本发明提出的一种由多个导持元件所组配而成的定位导持承座组成示意图。

图3A为本发明提出的另一种集成电路元件测试插座示意图。

图3B为本发明提出的另一种集成电路元件测试插座示意图。

图4为本发明提出的一种插座基板示意图。

图5为本发明提出的一种集成电路元件测试机台示意图。

主要元件标记说明

集成电路元件测试插座    20、30、40

插座本体                21、31、41

凹陷部                  211、411

弹性接触端子            2111

容置孔                  212

定位导持承座            22、32、42