[发明专利]物件瑕疵检测装置及方法、检测条件之调适方法无效

专利信息
申请号: 200710122732.8 申请日: 2007-07-02
公开(公告)号: CN101339140A 公开(公告)日: 2009-01-07
发明(设计)人: 杨璿;赖夏枝;沈家麟 申请(专利权)人: 台达电子工业股份有限公司
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88;G06F17/00
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 代理人: 许志勇;霍育栋
地址: 中国台湾桃园县*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 物件 瑕疵 检测 装置 方法 条件 调适
【权利要求书】:

1、一种物件瑕疵检测方法,用于检测至少一待测物件之一瑕疵信息,其特征在于,包括步骤:

选取所述待测物件之一全部影像及一部分影像其中之一;

设定一瑕疵辨识方法之复数个检测条件;

选择以人工方式调整所述检测条件;

依所述影像调整所述检测条件,及基于所述检测条件实施所述瑕疵辨识方法以检测所述待测物件而产生该待测物件之所述瑕疵信息。

2、如权利要求1所述的方法,其特征在于,进一步包括:

输出调整后之所述检测条件至一数据库。

3、如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述设定步骤系由一所述数据库中取得所述检测条件而完成设定。

4、如权利要求1所述的方法,其特征在于,进一步包括

输出所述瑕疵信息。

5、如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述瑕疵辨识方法为一Blob演算法及一patterning matching演算法其中之一,而与该Blob演算法关联的所述检测条件为二值化边界值、亮度对比及物件数量其中之一。

6、如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述检测条件为复数个参数。

7、一种检测条件之调适方法,用于检测至少一模范物件而获得一瑕疵辨识方法之复数个检测条件,其特征在于,包括步骤:

选取所述模范物件之一全部影像及一部分影像其中之一;

依所述影像调整所述检测条件;及

选择以人工方式调整所述检测条件。

8、一种物件瑕疵检测装置,用于检测至少一待测物件之一瑕疵信息,其特征在于,包括:

一取像装置,以取得所述待测物件之一全部影像及一部分影像其中之一;

一运算装置,与所述取像装置连结,用于提供一瑕疵辨识方法及与其关联的复数个检测条件并调整该等检测条件,该运算装置基于该等检测条件实施该瑕疵辨识方法以检测所述待测物件而产生该待测物件之所述瑕疵信息;

一显示装置,与所述运算装置连结,以显示所述瑕疵信息。

9、如权利要求8所述的装置,其特征在于,

所述运算装置经由人工方式调整所述检测条件;或

该运算装置依所述影像调整该等检测条件。

10、如权利要求8所述的装置,其特征在于,

所述取像装置为CCD;

所述运算装置为检测装置、桌上型电脑及笔记型电脑其中之一;及/或

所述显示装置为CRT萤幕、平面显示器及投影机其中之一。

11、如权利要求8所述的装置,其特征在于,

所述瑕疵辨识方法为一Blob演算法及一patterning matching演算法其中之一;与该Blob演算法关联的所述检测条件为二值化边界值、亮度对比及物件数量其中之一;

所述检测条件为复数个参数。

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