[发明专利]一种制备GaMnN稀磁半导体纳米线的方法无效
| 申请号: | 200710121747.2 | 申请日: | 2007-09-13 |
| 公开(公告)号: | CN101127303A | 公开(公告)日: | 2008-02-20 |
| 发明(设计)人: | 俞大鹏;宋祎璞;王朋伟 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
| 主分类号: | H01L21/18 | 分类号: | H01L21/18 |
| 代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 | 代理人: | 关畅 |
| 地址: | 100871北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 制备 gamnn 半导体 纳米 方法 | ||
1.一种制备GaMnN稀磁半导体纳米线的方法,包括如下步骤:
1)Mn掺杂:在Ga2O3纳米线上原位掺杂Mn;
2)氨化:将掺有Mn的Ga2O3纳米线在氨气气氛下进行氨化,得到GaMnN稀磁半导体纳米线。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:步骤1)所述在Ga2O3纳米线上原位掺杂Mn的条件为:
将MnCl2·4H2O粉末、镓源衬底和收集衬底依次放入一端开口的石英舟中,然后再把石英舟放入管式炉,并使开口端迎着气流方向;封闭系统、抽真空,再通入氩气进行清洗,控制炉内压强为0.6~0.9标准大气压,通入氩气作为载气;并设定升温速度为15~20℃/分钟,使管式炉温度升到900℃,保持温度,在收集衬底上得到掺杂有Mn的Ga2O3纳米线。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于:所述进行氨化的条件为:
将炉温升高至1050℃,关闭氩气,通入氨气并保温40分钟,控制压强为0.9大气压,对掺有Mn的Ga2O3纳米线进行氨化处理,得到GaMnN稀磁半导体纳米线。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





