[发明专利]面向集成电路测试的测试数据转换方法

权利要求书

1.一种面向集成电路测试的测试数据转换方法，针对J750系列测试机实施，其特征在于包括如下步骤：

(1)将所述测试机输出的原始数据文件按照预定的路径存放，并且按照预定的格式生成新建数据文件的文件名；

(2)根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据文件中填写相关项；

(3)在多个芯片并行测试的情况下，首先在所述新建数据文件的列标题处填写预定数据项，然后启动多线程扫描原始数据中同一个坐标的不同测试项得出的数据，分别填写在对应的测试名称下；

(4)在执行完毕后，在wafer log日志文件中写入表示数据转换完毕的信息，所述wafer log日志文件是对已经完成数据处理的晶片进行记录的文件。

2.如权利要求1所述的面向集成电路测试的测试数据转换方法，其特征在于：

所述步骤(1)中，所述原始数据中包括原始测试数据和复测数据，所述该原始测试数据放置在Test Data/Device/Lot/Data目录之下，所述复测数据放置在Test Data/Device/Lot/Retest目录之下。

3.如权利要求1所述的面向集成电路测试的测试数据转换方法，其特征在于：

所述步骤(1)中，通过记事本程序打开所述原始数据文件，识别该项测试起始时的日期和时间、任务名称和节点名称，再从Lot log日志文件中得到晶片的信息，把这些信息拆分并整合，得出新建数据文件的文件名，其中所述Lot log日志文件是对已经完成整个批次数据处理的批号进行记录的文件。

4.如权利要求1所述的面向集成电路测试的测试数据转换方法，其特征在于：

所述步骤(2)中，根据原始数据文件中的内容，在所述新建数据文件中填写相关项，确定行标题和列标题。

5.如权利要求1所述的面向集成电路测试的测试数据转换方法，其特征在于：

所述步骤(3)中，所述预定数据项包括但不限于坐标、地点、ID序列、自动识别产生的测试名称以及最后测试结果信息。

6.如权利要求1所述的面向集成电路测试的测试数据转换方法，其特征在于：

所述数据转换方法在执行前，通过读取wafer log日志文件，判断此片数据是否已经处理；如果已经进行处理则放弃该数据，转而进行下一批待处理数据的处理；如果还未进行处理则判断是否有需要进行复测的数据文件，然后按先原始数据、再复测数据的顺序读取数据文件，获取数据并把数据写入临时文件中。