[发明专利]一种测试维护系统及方法有效

专利信息
申请号: 200710119710.6 申请日: 2007-07-30
公开(公告)号: CN101360311A 公开(公告)日: 2009-02-04
发明(设计)人: 王洪波;钟显成;吴永海;李敬华 申请(专利权)人: 大唐移动通信设备有限公司
主分类号: H04Q7/34 分类号: H04Q7/34;H04Q7/30
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 代理人: 刘松
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 维护 系统 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及测试维护技术,特别涉及基站的测试维护系统及方法。

背景技术

在传统的基站中基带处理单元和射频处理单元在一个硬件单元中实现。采用基带拉远技术后,基站被分割成BBU(Baseband Unit,基带单元,)和RRU(Remote RF Unit,远端射频单元,)两种相互独立的硬件单元。BBU与RRU之间的接口为Ir接口。

现有技术的测试解决方案中,对于BBU和RRU的测试,分别采用对等的另外一个功能单元进行测试,例如测试BBU,就采用RRU作为测试设备;测试RRU,就采用BBU作为测试设备。

现有的RRU在建站时的测试或维护时,利用单独的测试线缆通过RRU独立的测试接口与RRU建立通信连接,然后再连接到测试计算机,通过运行在测试计算机上的软件对RRU进行测试和维护。

发明人在发明过程注意到,现有技术的测试解决方案中,由于BBU和RRU需要实现所有必要的功能,因此其不足在于:将其作为测试设备,成本必然非常高,同时体积非常大。而且一种设备无法同时支持BBU和RRU两种硬件单元的测试。

另外,由于RRU在建站时的测试,或维护(典型为故障定位)时,往往通过单独的测试线缆通过RRU独立的测试接口与RRU建立通信连接,该测试接口不是正常通信接口,因此有些应用场景下,比如安装在塔上的RRU不易于测试和维护。所以其不足在于:现有的RRU建站时测试或维护方案使得建站测试或维护操作困难。

同时,由于测试接口是各厂商自行定义并进行测试使用,因此使得测试维护不具备通用性。

发明内容

本发明实施例提供了一种测试维护系统及方法,用以解决在对BBU或RRU的测试维护中存在的因测试接口不通用导致易用性差的问题。

本发明实施例提供了一种测试维护系统,应用于被测试维护设备为BBU或RRU的测试和/或维护,包括适配装置、操作终端,其中:

适配装置,通过Ir接口与所述被测试维护设备相连,用于经Ir接口完成所述操作终端对所述被测试维护设备运行测试和/或维护软件时,测试和/或维护数据的收发;

操作终端,与所述适配装置相连,用于运行测试和/或维护软件,通过适配装置对被测试维护设备进行测试和/或维护;

其中,所述适配装置包括处理器模块和Ir接口协议处理模块,其中:

处理器模块,与所述操作终端、Ir接口协议处理模块相连,用于将所述操作终端运行测试和/或维护软件时产生的测试和/或维护数据发送至所述Ir接口协议处理模块,根据从所述Ir接口协议处理模块接收的测试和/或维护数据作为运行测试和/或维护软件的结果数据反馈至所述操作终端;

Ir接口协议处理模块,与所述被测试维护设备、处理器模块相连,用于在接收到所述处理器模块发送的测试和/或维护数据后,将所述测试和/或维护数据按Ir接口协议转换后发送至所述被测试维护设备,将从所述被测试维护设备接收的数据按Ir接口协议转换成测试和/或维护数据后发送至所述处理器模块。

本发明实施例还提供了一种测试维护方法,用于被测试维护设备为BBU或RRU的测试和/或维护,包括如下步骤:

操作终端对所述被测试维护设备运行测试和/或维护软件后产生测试和/或维护数据;

处理器模块,将所述操作终端运行测试和/或维护软件时产生的测试和/或维护数据发送至Ir接口协议处理模块;

Ir接口协议处理模块,在接收到所述处理器模块发送的测试和/或维护数据后,将所述测试和/或维护数据按Ir接口协议转换后发送至所述被测试维护设备;

Ir接口协议处理模块,将从所述被测试维护设备接收的数据按Ir接口协议转换成测试和/或维护数据后发送至所述处理器模块;

处理器模块,根据从所述Ir接口协议处理模块接收的测试和/或维护数据作为运行测试和/或维护软件的结果数据反馈至所述操作终端。

本发明实施例有益效果如下:

本发明实施例在应用于被测试维护设备为BBU或RRU的测试和/或维护时,将适配装置通过Ir接口与被测试维护设备相连,操作终端与适配装置相连,由于Ir接口为正常的标准通信接口,因此,当操作终端运行测试和/或维护软件时,通过适配装置经Ir接口完成操作终端对被测试维护设备运行测试和/或维护软件时数据的收发过程中,由于使用了Ir接口,因此能够避免通过单独调用测试接口带来的测试和维护困难的问题。

附图说明

图1为本发明实施例中所述测试维护系统结构示意图;

图2为本发明实施例中所述适配装置结构示意图;

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