[发明专利]光盘设备无效

专利信息
申请号: 200710112053.2 申请日: 2007-06-22
公开(公告)号: CN101093683A 公开(公告)日: 2007-12-26
发明(设计)人: 香山博司;百尾和雄 申请(专利权)人: 松下电器产业株式会社
主分类号: G11B7/09 分类号: G11B7/09
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 覃鸣燕
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光盘 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种光盘设备,这种光盘设备具有在向光盘中记录数据或从光盘中再现数据中使用的新颖的聚焦控制方法。

背景技术

图10提供了用于描述普通光盘记录/再现设备的示例性结构的框图。如图10所示,由安装于一激光二极管元件(在下文中称作“LDU”)102上的用作光源的激光器发出的光,通过准直透镜103被转换为准直光,然后通过偏振全息图104。接着,通过四分之一波片105将来自偏振全息图104的线性偏振光转换为圆偏振光,并且通过由致动器107驱动的物镜106将该圆偏振光聚焦至光盘101上,光盘101通过主轴电动机108进行旋转。物镜106可通过致动器107在聚焦方向F和寻轨方向T(横跨轨道的方向)上移动。由光盘101反射的光穿过物镜106,然后由四分之一波片105将其由圆偏振光转换为线偏振光,该线偏振光的偏振方向垂直于从偏振全息图104发出照射到四分之一波片105上的线偏振光的偏振方向。然后,光由偏振全息图104衍射并穿过准直透镜103。接着,由位于LDU102上的用作光接收元件的的光电探测器接收这些光。该光电探测器将对照射到其上的入射光的探测信号输出给前置放大器121。如后面将详细描述的,前置放大器121根据该探测信号产生一聚焦误差信号(在下文中称作“FE信号”)、一寻轨误差信号(在下文中称作“TE信号”)和一RF信号。

该FE信号表示形成于光盘101的数据记录层上的光斑由于物镜106在聚焦方向F上偏离了正确的聚焦位置而没有处于特定的聚焦状态。该TE信号表示由于物镜106在寻轨方向T上偏离了正确的寻轨位置因而该光斑在寻轨方向T上发生了偏移。该RF信号具有数据信息和轨道的地址信息,其中该数据信息被记录为光盘101的数据记录层上的坑或标记,且该轨道为用于向其记录数据或从中再现数据的轨道。信号处理元件122接收RF信号,然后提取并再现记录的数据信息以及地址信息。伺服元件123接收FE信号和TE信号,接着产生用于控制致动器107的控制信号,以便基于该控制信号控制物镜106。伺服元件123还控制主轴电动机108。激光驱动元件125控制在记录或再现数据中使用的LDU102上的激光器的输出功率。由信号处理元件122再现的信息被传输至控制器124。伺服元件123和激光驱动元件125是在控制器124的控制下操作的。

图8描述了利用常规光斑尺寸探测(在下文中称作“SSD”)方法的FE信号探测元件。光电探测器201位于LDU102上并探测该FE信号。该FE信号是基于来自光电探测器201的输出而生成的。参考图8,FE信号“(b+c)-(a+d)”由减法器204产生,而累加信号,即FS信号“a+b+c+d”由加法器205产生。根据该FS信号,可以获得RF信号。附图标记202表示来自光盘的探测光聚焦于光电探测器201的探测表面前方时的光斑;而附图标记203表示来自光盘的探测光聚焦于光电探测器201的探测表面的后方的光斑。当光盘和物镜之间的距离改变时,光斑202和光斑203中的一个的尺寸增加,而另一个光斑的尺寸减小。通过这种方式可生成FE信号。

当再现具有凹槽的盘,例如DVD±R、DVD-RAM等等时,由于该凹槽产生的衍射效应生成第零级光和第一级光。上述光盘的引导槽具有突起(岸)和凹陷(槽)。图3A和3B提供了示意图,其显示了来自光盘的探测光在光电探测器上的分布。附图标记301和302分别表示在岸再现和槽再现情况下的光分布。如图3A和3B所示,在岸再现和槽再现的情况下,光分布发生反转。例如,如图9所示的聚焦于光电探测器901上的四分之一扇形部分902和903可替代由附图标记301或302表示的完整的圆,而用作聚焦控制的光斑。进而,根据光电探测器和光斑之间的位置关系,可针对岸和槽改变由于散焦引起的FE信号的振幅变化。

图4A和4B分别描述了光盘和在岸轨道和槽轨道的中心处的物镜之间的距离发生改变的情况下的FE信号。图4A和4B中的虚线表示在聚焦点上的FE信号。

图5是显示了描述在为岸和槽设置相同的电路增益时改变散焦量的情况下的特定伺服频带处的聚焦伺服的开环特性图。当FE信号在聚焦点附近具有弯曲点时,如图4A和4B所示,在岸和槽处的聚焦增益如图5所示发生变化。因此,当测量到与FE信号的变化相关的抖动和RF振幅中的变化时,岸和槽中的灵敏度彼此不同,如图6A和6B所示。在图6A和6B中,开口向上和向下的曲线分别表示抖动特性和RF振幅特性。

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