[发明专利]液晶显示装置和用于液晶显示装置的测试方法

权利要求书

1.一种液晶显示装置，包括：

像素阵列部分，其包括按照矩阵布置的多个单位像素并且每个单位像素包括像素晶体管、被连接到所述像素晶体管的输出电极的电容元件和被配置为根据所述电容元件中保持的电压来显示灰度的液晶单元；

第一数据线，其被连接到所述像素阵列部分的单位像素中以像素列为单位的第一像素组中的每个单位像素的输入电极；

第二数据线，其被连接到所述像素阵列部分的单位像素中以像素列为单位的第二像素组中的每个单位像素的输入电极；

电压供给控制单元，其被配置为在第一测量信号通过所述第一数据线被写入所述第一像素组的单位像素中并且第二测量信号通过所述第二数据线被写入所述第二像素组的单位像素中之后选择性地把预定直流电压提供给所述第一和第二数据线；

数据线短路单元，其被配置为在通过所述电压供给控制单元提供电压之后使所述第一数据线和所述第二数据线短路；以及

测试单元，其被配置为：在通过所述数据线短路单元使所述第一和第二数据线互相短路之后所述第一和第二测量信号被从所述第一和第二像素组的单位像素中分别读出到所述第一和第二数据线中之后将所述第一数据线处的电位与所述第二数据线处的电位进行互相比较并基于所述比较的结果来执行所述像素阵列部分的测试。

2.根据权利要求1所述的液晶显示装置，还包括在所述测试单元的输入级处提供的开关单元，所述开关单元被配置为选择性地切断所述测试单元与所述第一和第二数据线之间的电连接。

3.根据权利要求2所述的液晶显示装置，其中，所述数据线短路单元被提供在所述开关单元与所述测试单元之间。

4.根据权利要求1所述的液晶显示装置，其中，所述测试单元包括：

比较单元，其被配置为在通过所述数据线短路单元使所述第一和第二数据线互相短路之后所述第一和第二测量信号被从所述第一和第二像素组的单位像素中分别读出到所述第一和第二数据线中之后将所述第一数据线处的电位与所述第二数据线处的电位进行互相比较；以及

判定单元，其被配置为对通过所述比较单元得到的比较结果与根据所述第一和第二测量信号估计的预期值是否一致进行判定。

5.一种用于液晶显示装置的测试方法，所述液晶显示装置包括：像素阵列部分，其包括按照矩阵布置的多个单位像素并且每个单位像素包括像素晶体管、被连接到所述像素晶体管的输出电极的电容元件和被配置为根据所述电容元件中保持的电压来显示灰度的液晶单元；第一数据线，其被连接到所述像素阵列部分的单位像素中以像素列为单位的第一像素组中的每个单位像素的输入电极；以及第二数据线，其被连接到所述像素阵列部分的单位像素中以像素列为单位的第二像素组中的每个单位像素的输入电极，所述方法包括以下步骤：

把第一测量信号通过所述第一数据线写入所述第一像素组的单位像素中并把第二测量信号通过所述第二数据线写入所述第二像素组的单位像素中；

在所述写入步骤处写入所述第一和第二测量信号之后，选择性地把预定直流电压提供给所述第一和第二数据线的电压供给控制步骤；

在所述电压供给控制步骤处提供电压之后，使所述第一数据线和所述第二数据线短路；

在所述短路步骤处使所述第一和第二数据线互相短路之后从所述第一和第二像素组的单位像素中分别读出所述第一和第二测量信号到所述第一和第二数据线中；以及

在所述读出步骤处进行读出之后将所述第一数据线处的电位与所述第二数据线处的电位进行互相比较并基于所述比较的结果来执行所述像素阵列部分的测试。

6.根据权利要求5所述的用于液晶显示装置的测试方法，其中，为以分区为单位的彼此成对的每两个相邻像素列的每个像素行执行所述写入步骤、电压供给控制步骤、短路步骤、读出步骤和测试步骤处的一系列操作，其中所述像素阵列部分的所有像素列被分成多个分区。