[发明专利]测量装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种测量装置，更具体地，涉及测量基材透气率的测量装置。

背景技术

由于有机发光二极管(Organic Light-emmitting Diodes，OLED)材料于含有氧化的环境(如：水气、氧气等)甚为敏感，因此，作为该有机发光二极管的阻挡层材料的阻挡率必须小于1×10^-5克/平方米/天(g/m²/day)。

然而，目前应用于该有机发光二极管的阻挡层材料的阻挡率测量是以钙测试(Ca testing)法最为方便，请参阅图5，是已知的测量装置的结构示意图。如图所示，该钙测试法采用激光(Laser)光源，并以设于光学导轨上的电荷耦合元件(Charged Coupled Device，CCD)40搭配光学显微镜装置50，用以观测含有金属(Ca)薄膜的基板30(与背光装置搭配)，于含有氧化的环境下与水氧氧气反应生成氧化钙(CaO)、或氢氧化钙(Ca(OH)₂)时的透光率变化，从而计算该有机发光二极管的阻挡层材料的阻挡率，对本领域的技术人员而言，当透光性下降时，即代表气体通过的阻挡增加，使得透气性降低，进而提升阻挡率。

虽上述的钙测试法采用激光光源，以电荷耦合元件40搭配光学显微镜装置50观察该基板30的局部图案穿透变化，其灵敏度可达1×10^-6克/平方米/天(g/m²/day)，也即可解析1×10^-6克/平方米/天以下的透气量，但由于该钙测试法所采用的测量装置的零件昂贵，所解析的面积受限，且无法测量具有阻挡层材料的基板于受外力挠曲下的阻挡率。

因此，如何设计一种具简易方式及低成本进行测量，且可于受外力挠曲下测量其阻挡率的测量装置，确为相关领域上所需迫切解决的课题。

发明内容

鉴于上述现有技术的缺点，本发明的主要目的在于提供一种结构简单且设备成本低的测量装置。

本发明的另一目的在于提供一种使基材可于不同曲率形变下测量其透气率的测量装置。

为达上述目的，本发明提供一种测量装置，包括用以产生光源的发光元件；用以接收光线并取得该光线的透光变化量的检测元件；透镜组件，配置于该发光元件与该检测件的光路间，用以接收该光源及投射光线至该检测元件，且具有多个用以调整焦距的透镜；以及配置于该透镜组件的多个透镜之间的载件，该载件用以设置该基材，并使光线可穿透该基材。

另外，该测量装置还可包括一受力件及一计算器(如：电脑)，该受力件用以提供该基材一应力，使其可于不同曲率形变下测量其透气率，而该计算器用以计算对应光线的透光变化量的透光率，且该检测元件与该计算器可组成一检测单元。

上述的该透镜组件是配置于该发光元件与该检测件的光路间，且具有多个透镜及一载件，该多个透镜用以接收经由该发光元件产生的光源并投射光线至该检测元件，该载件配置于该透镜组件的多个透镜，用以设置该基材，并使光线穿透该基材，而该检测元件可为电荷耦合元件(Charged Coupled Device，CCD)、或光二极管检测器(PhotodiodeDetector)，其解析度可达1×10^-6克/平方米/天(g/m²/day)，可降低透气率测量的误差。

本发明的测量装置的结构简单，使其设备成本低，且由于该基材的弯曲程度由该载件的透镜曲率半径不同而改变，并可通过该受力件提供应力，使基材可于不同曲率形变下测量其透气率。

附图说明

图1A至1C是本发明的测量装置的结构示意图；

图2A至2C是本发明的测量装置的第一实施例结构示意图；

图3A至3B是为本发明的测量装置的第二实施例结构示意图；

图4是本发明的测量装置的第三实施例结构示意图；

图5是已知的测量装置的结构示意图；以及

图6至7是本发明的基材的阻气材料数据值示意图。

主要元件符号说明

11    发光元件

12    透镜组件

121   透镜

122   载件

122a  第一表面

122b  第二表面

13    检测元件

14    受力件

15    分光件

16    对照组件

161   对照透镜

162   对照载件

20    基材

30    基板