[发明专利]用于利用穿过对象的投影来探测对象的探测装置和方法

权利要求书

1.一种用于利用穿过对象(40)在探测面(10)上的投影来探测该对象的探测装置(1，3)，

该探测装置具有构造用于发送量子(34)的发送器(5)，还具有至少一个用于接收所发出的量子(34)的、设置于探测面(10)内的检测器(7)，该检测器被构造和设置成，根据穿过该对象(40)所接收到的量子(34)产生至少一个在投影中至少部分地表征该对象(40)的检测器信号，

其中，该探测装置(1，3)被构造成，根据所产生的检测器信号为所探测到的量子产生量子信号，该量子信号表征所探测到的量子的量子能，

其特征在于，该探测装置被构造成产生一个与由该量子信号表征的量子能的量子能之和相对应的和信号。

2.根据权利要求1所述的探测装置，其特征在于，

该探测装置具有至少一个与该检测器(7)至少是间接地相连的加权鉴别器(12)，该加权鉴别器被构造为依照预定的对应规则来产生量子信号。

3.根据权利要求1或2所述的探测装置，其特征在于，

所述加权鉴别器(12)被构造为，根据预定对应规则通过与离散的量子能值(22，24)相对应来产生量子信号。

4.根据上述权利要求中任一项所述的探测装置，其特征在于，

该探测装置(1)具有一个与该加权鉴别器(12)至少间接地相连的用于量子能数据组(24)的临时存储器(18)，其中，该量子能数据组(24)分别表征在时间上连续接收到的量子的量子能，并且，该加权鉴别器(120被构造为，根据预定分布函数评估所接收到的单个量子的保存在该临时存储器(18)中的量子能，并产生根据该预定分布函数表征评估结果的量子信号。

5.根据权利要求1或2所述的探测装置，其特征在于，

该检测器(7)具有多个检测器矩阵元件(9)，它们分别被构造成，根据所接收到的量子(34)产生检测器信号。

6.根据上述权利要求中任一项所述的探测装置，其特征在于，

所述检测器矩阵元件(9)具有量子计数的半导体检测器。

7.一种带有根据上述权利要求中任一项所述的探测装置(1，3)的计算机断层造影仪，其特征在于，

该计算机断层造影仪被构造为，产生表征对于每个检测器矩阵元件的和信号或量子信号的二维数据组，并且被构造为，从分别表征该对象在探测面上的投影的二维数据组中、尤其是通过反向投影而产生按照三个维度表征对象的三维数据组。

8.一种用于利用穿过对象在探测面(10)上的投影对该对象(40)进行探测的方法，其中，

-穿过该对象发送至少一个量子；

-接收该量子并产生表征该对象的接收信号；

-产生表征该接收信号的量子能的量子信号；

其特征在于，

-产生表征该量子信号的量子能之和的和信号。