[发明专利]图像显示系统与其云纹缺陷消除方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种图像显示系统，特别是涉及一种消除显示器的云纹缺陷 (mura defects)的方法。

背景技术

显示器中各像素的驱动与否，乃由所述像素内的薄膜薄膜场效晶体管TFT 的导通与否决定。然而，薄膜场效晶体管TFT的电子特性与工艺的精密度息 息相关。工艺的任何些微偏移都将或多或少改变薄膜场效晶体管TFT的电子 特性。由于各个像素的薄膜场效晶体管TFT很难拥有一致的电子特性，故显 示器所有像素的发光状况并不一致。显示器所显示的画面会有云纹缺陷(mura defects)。

一种传统的解决方式为改变像素结构，直接将云纹缺陷补偿装置加入像 素电路中，其中包括一电压驱动(voltage driving)方式、以及一电流驱动 (current driving)方式。在该电压驱动方式中，每个像素至少需要5个薄膜 场效晶体管TFT，并且仅能补偿上述薄膜场效晶体管TFT的阈值电压(V_th)所 引起的云纹缺陷。在该电流驱动方式中，每个像素至少需要4个薄膜场效晶 体管TFT，并且对低灰阶值的补偿能力并不好。这种改变像素结构的解决方 法通常需要较多的薄膜场效晶体管TFT，不仅影响像素的开口率(aperture ratio)、更不适合应用在高分辨率的显示器上(例如2时的QVGA或更高的分 辨率)。传统技术不仅影响像素的发光特性，亦会增加各像素的面积。

另一种已知的技术为外部补偿技术(external compensation)。美国专利 号U.S.6,911,781B2根据测试数据直接调整像素的灰阶值以补偿云纹缺陷。 然而，U.S.6,911,781B2并没有提出新的技术来收集测试数据，亦没有提出 补偿云纹缺陷时所依据的算法。此外，U.S.6,911,781B2需要极大的存储器 容量存储测试结果。

因此，我们需要一种新颖的方法以克服上述传统技术的缺陷。

发明内容

本发明提供一种图像显示系统，其中，不仅揭露一种收集测试数据的方 法，更揭露多种消除云纹缺陷的算法。本发明不仅不需要改变像素的结构， 更不需要大存储器空间。在消除云纹缺陷的同时，本发明所揭露的算法更可 以同时根据不同使用者或使用环境的要求，针对伽马参数(Gamma setting)、 白点设定(white point)、以及峰值亮度(peak brightness)进移动态的调整， 不若传统技术需要另行以额外流程对上述参数进行调整。

本发明所揭露的图像显示系统包括：多个像素、一存储器、以及一专用 集成电路。该存储器乃用来存储所述像素各自的一云纹补偿参阵列。该专用 集成电路将自该存储器读取上述云纹补偿参阵列。各像素的云纹补偿参阵列 输入该专用集成电路后，该专用集成电路的功能将为该像素的一云纹补偿函 式组，用以将一原始灰阶值转换为一云纹消除灰阶值以取代该原始灰阶值驱 动该像素。

其中，上述云纹补偿参阵列由一参数产生器所产生。该参数产生器包括 对应所述像素的多个传感元件、一平均亮度测量器、以及一处理单元。上述 传感元件将分别传感上述像素的发光状况并产生一传感数据。待该平均亮度 测量器测量到所述像素的一平均亮度后，该处理单元将根据该平均亮度，把 所述像素的传感数据分别转换成一亮度数据。该处理单元将以至少一个测试 灰阶值测试所述像素，并且根据上述测试灰阶值与所对应的亮度数据的关系， 推估各像素的上述云纹补偿参阵列。

在上述云纹消除灰阶值的驱动下，该图像显示系统的显示器的云纹缺陷 将大大改善。

为让本发明的上述和其它目的、特征、和优点能更明显易懂，下文特举 出较佳实施例，并配合附图作详细说明。

附图说明

图1为本发明的图像显示系统的一实施方式；

图2以流程图描述产生上述云纹补偿参阵列的一种算法；

图3以流程图描述图2的算法所对应的专用集成电路如何驱动一像素

图4以流程图描述产生上述云纹补偿参阵列的另一种算法；

图5以流程图描述图4的算法所对应的专用集成电路如何驱动一像素；

图6以流程图描述产生上述云纹补偿参阵列的另一种算法；

图7以流程图描述图6的算法所对应的专用集成电路如何驱动一像素；

图8以流程图描述产生上述云纹补偿参阵列的另一种算法；