[发明专利]光扫描装置和图像形成装置及光扫描装置的有效控制方法有效

专利信息
申请号: 200710102220.5 申请日: 2007-04-27
公开(公告)号: CN101063749A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 富田泰正 申请(专利权)人: 株式会社理光
主分类号: G02B26/12 分类号: G02B26/12;G03G15/04;G03G15/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 赵蓉民
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 扫描 装置 图像 形成 有效 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种光扫描装置,其包括:

多个光源,其发射光束;和

一个转动偏向器,其使所述光束偏向;

其特征在于包括:

如果V/Vmax大于规定值时,所述转动偏向器的旋转数值Rm减为Rdef×(V/Vmax);当所述转动偏向器的所述旋转数值,或者所述旋转数值和所述光束数因图像形成装置的处理线速度的切换而变化,V/Vmax不大于所述规定值时,所述旋转数值Rm减为Rdef×(V/Vmax)×m、所述光束数减为Ndef/m,其中V为所述图像形成装置的处理线速度,Vmax为最大处理线速度,Ndef为所述最大处理线速度Vmax时的所述光束数,Rdef为所述转动偏向器的所述旋转数值,m为正整数,Vmax大于V。

2.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于:

所述规定数值为0.75。

3.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于:

当Rm大于Rdef时满足下列关系:

Rm/Rdef<1.5。

4.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于:

当V/Vmax小于0.5时,副扫描方向上的像素密度至少加倍。

5.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于:

所述转动偏向器构成多个反射表面,当V/Vmax小于0.5时,所述多个反射表面是被交替反射的。

6.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于:

Rm满足下列关系:

Rmax<1.5×Rmin

其中,Rmax是所述转动偏向器的最大旋转数值,Rmin是所述转动偏向器的最小旋转数值。

7.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于:

满足下列关系:

0.5×(Vmax/Ndef)<V/N<1.5×(Vmax/Ndef)

其中,N是所述光束数。

8.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于包括:

同步检测器,其控制主扫描方向上的光束的写入开始位置;

所述同步检测器接受一定量的射入光。

9.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于包括:

当改变所述转动偏向器的所述旋转数值时,主扫描方向上的光束的写入开始位置是以点单位来调整的。

10.根据权利要求1所述的光扫描装置,其特征在于包括:

当减少所述光源的所述光束数时,可以使用任意的光源进行扫描。

11.一种图像形成装置,其特征在于包括:

权利要求1所述的光扫描装置;

其中所述图像形成装置能够在多个处理线速度之间进行切换。

12.一种控制光扫描装置的方法,其包括用于发射光束的多个光源,和用于使所述光束偏向的一个转动偏向器;

其特征在于包括:

如果V/Vmax大于规定值时,减少所述转动偏向器的旋转数值Rm至Rdef×(V/Vmax);和

当所述转动偏向器的所述旋转数值,或者所述旋转数值和所述光束数因图像形成装置的处理线速度的切换而变化,V/Vmax不大于所述规定值时,减少所述旋转数值Rm至Rdef×(V/Vmax)×m、减少所述光束数至Ndef/m,其中V为所述图像形成装置的处理线速度,Vmax为最大处理线速度,Ndef为所述最大处理线速度Vmax时的所述光束数,Rdef为所述转动偏向器的所述旋转数值,m为正整数,Vmax大于V。

13.根据权利要求12所述的控制光扫描装置的方法,其特征在于:

所述规定数值为0.75。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710102220.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top