[发明专利]液晶显示器驱动芯片的治具板

说明书

技术领域

本发明提供一种液晶显示器驱动芯片的治具板，尤指一种可以在量测驱动芯片时，隔离模拟信号与数字信号间相互干扰的治具板。

背景技术

液晶显示器驱动芯片(LCD driver)现今发展的工作速度愈来愈快，且位阶要求愈来愈准确。传统的治具板是于一测试系统的机台上供液晶显示驱动芯片测试用，在治具板上可设置一液晶显示驱动芯片。

参考图1，一般传统的治具板10以其上线路布局主要包括有：一待测组件区(DUT)101、一液晶显示信号区(LCD CHANNEL)103、一电压参考位阶区(RVS)105、一组件数字电源区(DPS)107、一输入信号区(I/P CHANNEL)109、一继电器控制位区(CW)102及一外加电源区(USER POWER)104。根据治具板10上的线路布局方式，可区分成下述两种：

1、参考图2所示，治具板10a仅提供一数字参考点DG，作为测试驱动芯片106时，数字信号与模拟信号共同的参考位阶。此种将数字参考点DG短路在一起的治具板10a，其无法隔离模拟信号与数字信号间的相互干扰，而导致测试时有较大的噪声产生，进而影响信号和电源的准确度。前述信号间的干扰，会使驱动芯片106的数字/模拟转换器DAC(未标示)于信号转换过程中，造成功能飘移、位阶不对及信号不稳，导致测试误判甚至造成低良率。

2、参考图3所示，治具板10b除了数字参考点DG外，额外提供一模拟信号参考点AG，作为一组件模拟电源区107b与驱动芯片106的模拟电源VDD2共同的参考位阶。如此，治具板10b可以模拟信号参考点AG与数字参考点DG隔离模拟电源VDD2与数字电源VDD1。然而，虽然区分出模拟电源VDD2与数字电源VDD1，降低电源间的相互干扰，但仍然无法分离驱动芯片106中的模拟系统方块和数字系统方块，故数字信号和模拟信号间，仍然互相干扰。

此外，电压参考位阶区105仍然以数字信号参考点DG作为其参考位阶，所以无法稳定数字/模拟转换器(DAC)的转换位阶，位阶的飘移仍无法有效的改善，致使测试过程中仍然不稳定。

因此，本发明人特潜心研究并配合学理的运用，以设计一可针对上述因素作考虑的装置，令使用者在进行测试时，可降低受噪声干扰，进而提升驱动芯片106于受测试时的准确度。

发明内容

有鉴于此，本发明提供一种液晶显示器驱动芯片的治具板，适用于一具有数字系统与模拟系统的液晶显示器驱动芯片，并且在量测驱动芯片时，提供一数字信号参考点与一模拟信号参考点，用来隔离模拟信号与数字信号间相互的干扰。

本发明第一实施例的治具板包括：一待测组件区、一液晶显示信号区、一电压参考位阶区、一组件模拟电源区、一组件数字电源区及一输入信号区。该待测组件区连接液晶显示器驱动芯片，并且设有一数字信号参考点及一模拟信号参考点；该液晶显示信号区连接至该待测组件区的模拟信号参考点；该电压参考位阶区连接至该待测组件区的模拟信号参考点；该组件模拟电源区连接至该待测组件区的模拟信号参考点；该组件数字电源区连接至该待测组件区的数字信号参考点；该输入信号区连接至该待测组件区的数字信号参考点。

本发明第二实施例的治具板包括：一待测组件区、一液晶显示信号区、一电压参考位阶区、一组件模拟电源区、一组件数字电源区及一输入信号区。该待测组件区设有一数字信号参考点、一模拟信号参考点及一辅助模拟信号参考点；该液晶显示信号区连接至该待测组件区的模拟信号参考点；该电压参考位阶区连接至该待测组件区的辅助模拟信号参考点；该组件模拟电源区连接至该待测组件区的模拟信号参考点；该组件数字电源区连接至该待测组件区的数字信号参考点；该输入信号区连接至该待测组件区的数字信号参考点。

本发明提供的治具板，可以于量测驱动芯片时，提供数字信号参考点与模拟信号参考点，来隔离模拟信号与数字信号间相互的干扰，以期降低噪声干扰，稳定信号位阶的准确度，进而加强驱动芯片测试中的稳定度，以期增进测试良率。

以上的概述与接下来的详细说明皆为示范性质，是为了进一步说明本发明的申请专利范围。而有关本发明的其它目的与优点，将在后续的说明与图标加以阐述。

附图说明

图1为传统的治具板线路布局示意图；

图2为具数字参考点的治具板线路布局示意图；

图3为具数字参考点与模拟信号参考点的治具板线路布局示意图；

图4为本发明第一实施例的治具板线路布局示意图；

图5为本发明第二实施例的治具板线路布局示意图；及

图6为本发明第三实施例的治具板线路布局示意图。