[发明专利]一种铝锭中微量汞的测定方法有效
申请号: | 200710099814.5 | 申请日: | 2007-05-31 |
公开(公告)号: | CN101055253A | 公开(公告)日: | 2007-10-17 |
发明(设计)人: | 李跃平;薛宁;张洁 | 申请(专利权)人: | 中国铝业股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/71 | 分类号: | G01N21/71;G01N1/28 |
代理公司: | 中国有色金属工业专利中心 | 代理人: | 李迎春 |
地址: | 100814北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 铝锭 微量 测定 方法 | ||
技术领域
一种铝锭中微量汞的测定方法,涉及一种金属铝锭中化学成份的分析方法,特别铝锭中微量汞的测定方法。
背景技术
在国际标准ISO/T115中明确规定,用于医药、食品等与环境和人类健康有关的铝产品中Hg+Cd+Pb<0.0095%。随着我国加入WTO及市场的进一步开放,我国的铝工业市场已与世界市场完全融通,我国是世界产铝大国,特别是近年来,随着出口铝锭量的增大,外商对铝产品中汞含量的检测提要求越来越多,虽然,我国铝锭产品技术标准中目前还没有对汞的含量进行要求,但为了尽快与国际接轨,减小技术壁垒,快速、准确的测定铝锭中微量汞元素的量,已成为当前轻金属产品分析工作者面临的重要问题,铝锭中的微量有害元素一般由铝锭生产的原材料及冶炼过程带入。汞是其中的一种有害元素,世界卫生组织(WHO)已将汞列为首要考虑的环境污染物。由于现在很多家用电器及盛装食品的装置是由铝做原料生产,而食品一旦被汞污染,无论使用任何加工方式都难以除去。所以,铝中汞的含量要引起足够的重视。
而目前的分析方法,如用常规分光光度法,冷原子吸收光谱法测定铝锭中的微、痕量汞灵敏度不够,精密度偏低,冷原子吸收光谱法的测定下限是0.000X%,对于铝锭中含量在10-5%~10-7%之间的汞无法测定。
发明内容
本发明的目的就是针对上述已有技术存在的不足,提供一种有效提高测定的灵敏度和准确度、满足国内外对铝锭产品的质量要求、提高分析效率、节约分析成本的铝锭中微量汞的测定方法。
本发明的方法是通过以下技术方案实现的。
一种铝锭中微量汞的测定方法,其特在于其测试过程是将样品溶样,抑制汞的挥发,并加入还原剂利用氢化物发生将铝锭中的微量汞富集起来,形成汞蒸汽后,引入用原子荧光光谱仪进行测定,得出测试结果。
本发明的一种铝锭中微量汞的测定方法,其特在于其测试过程包括以下步骤:
(1)样品的溶解过程是:将称取试样2.000g,置于400mL烧杯中,加入45ml王水(1+1)盖上表面皿,放置过夜,然后将盛有样品的烧杯放入90℃的水浴锅中,并保持20min,取出,冷却至室温,将溶液移入100mL容量瓶中,用去离子水稀释至刻度,摇匀;
(2)样品的测定过程是:将以上溶解好的样品和含有5g/L氢氧化钠-6g/L硼氢化钾的混合溶液一同,以5%的盐酸为载流引入原子荧光光谱仪中的反应系统,以氩气为载气将还原反应所产生的汞蒸汽,引入原子荧光光谱仪中,在选定的仪器测定条件下,根据荧光强度和汞的浓度成正比的关系,定量测定铝锭产品中的微量汞。
本发明的方法,将样品用王水溶解,为防止在溶样过程中汞的挥发,对溶解的温度、时间进行了规定,在反应系统加入一定浓度的还原剂使汞离子还原为汞蒸气,用氩气做载气将其引入原子荧光光谱仪测量系统,进行测定。使用本发明可以准确、快速的测定出铝锭中微量汞的含量,适用于全国所有的铝锭生产厂家进行微量汞的分析,以生产出达到国家标准质量要求的铝锭产品。
具体实施方式
一种铝锭中微量汞的测定方法,其测试过程是将样品溶样,抑制汞的挥发,并加入还原剂利用氢化物发生将铝锭中的微量汞富集起来,形成汞蒸汽后,引入用原子荧光光谱仪进行测定,得出测试结果;包括以下步骤:(1)样品的溶解过程是:将称取试样2.000g,置于400mL烧杯中,加入45ml王水(1+1)盖上表面皿,放置过夜,然后将盛有样品的烧杯放入90℃的水浴锅中,并保持20min,取出,冷却至室温,将溶液移入100mL容量瓶中,用去离子水稀释至刻度,摇匀;(2)样品的测定过程是:将以上溶解好的样品和含有5g/L氢氧化钠-6g/L硼氢化钾的混合溶液一同,以5%的盐酸为载流引入原子荧光光谱仪中的反应系统,以氩气为载气将还原反应所产生的汞蒸汽,引入原子荧光光谱仪中,在选定的仪器测定条件下,根据荧光强度和汞的浓度成正比的关系,定量测定铝锭产品中的微量汞。
本发明方法的实验中,所用试剂有:1、Hg标准溶液(1.0mg/mL),用时稀释至1μg/L;2、KBH4溶液6g/L;3、NaOH溶液5g/L;4、HCL溶液5%;5、王水(1+1),6、氩气(99.99%);试验用水均为石英亚沸蒸馏水,使用的测试仪器是原子荧光光谱仪。
样品应加工成厚度不大于1mm的屑状;样品的称取量是2.000g。
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