[发明专利]一种铝锭中微量铅的测定方法有效

专利信息
申请号: 200710099810.7 申请日: 2007-05-31
公开(公告)号: CN101055252A 公开(公告)日: 2007-10-17
发明(设计)人: 李跃平;薛宁;张洁 申请(专利权)人: 中国铝业股份有限公司
主分类号: G01N21/71 分类号: G01N21/71;G01N1/28
代理公司: 中国有色金属工业专利中心 代理人: 李迎春
地址: 100814北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 铝锭 微量 测定 方法
【说明书】:

技术领域

一种铝锭中微量铅的测定方法,涉及一种铝锭中微量铅的测定方法,特别重熔用铝锭产品中微量铅的测定。

背景技术

在2002年国家颁布的铝锭产品的技术标准中,参照了国际标准ISO/T115中的规定,明确规定了我国铝锭产品的技术标准中,用于医药、食品等与环境和人类健康有关的铝产品中As、Gd、Pb的含量不得大于0.01%。我国是世界产铝大国,随着加入WTO及市场的进一步开放,我国的铝工业市场已与世界市场完全融通,对产品质量的要求也越来越高,特别是近年来,随着出口铝锭量的增大,外商对铝产品中微、痕量有害元素的存在量提出了要求,快速、准确的测定铝锭中微量有害元素的量,已成为当前轻金属产品分析工作者面临的重要问题,铝锭中的微量有害元素一般由铝锭生产的原材料及冶炼过程带入。铅是其中的一种有害元素,铅及其化合物是17种严重危害人类寿命与自然环境的化学物质之一,人体中存在过量的铅将导致神经和再生系统紊乱,发育迟缓、血色素减少,并引发贫血和高血压,而人体累积吸入0.04g的铅即可引起急性中毒。由于现在很多家用电器及盛装食品的物品由铝做原料生产,所以,铝中铅的含量要引起足够的重视。而目前铝锭中微量铅仍无较理想的分析方法,如用原子吸收法测定铝锭中的微量铅灵敏度不够,它的最低测定下限是0.00XX%,对于铝锭中含量在0.0000X~0.000X%之间的铅也无能为力;等离子体光谱法测定铝锭中的微量铅由于铝基体的干扰,最低只能测到0.0X%,石墨炉原子吸收光谱法的检出限可以满足铝锭中微量铅的测定,但重现性较差;阳极伏安溶出法测定过程有汞的污染,结果稳定性较差。

发明内容

本发明的目的就是针对性上述已有技术存在的不足,提供一种能有效提高测定的灵敏度和准确度、提高分析效率、节约分析成本、保护环境的测定铝锭中微量铅的方法

本发明的方法是通过以下技术方案实现的。

一种铝锭中微量铅的测定方法,其特征在于其测试过程是将称取的样品,用王水溶解,加入氧化剂使样品中低价态的铅离子氧化为高价态,用氢氧化钠溶液控制溶液的酸度,再与还原剂反应,使样品溶液中的铅离子转化为气态的氢化物,用氩气做载气将其引入原子荧光光谱仪测量系统,进行测定的。

本发明的一种铝锭中微量铅的测定方法,其特征在于其测试步骤包括:

(1)样品的溶解过程

称取试样0.1000g,置于烧杯中,加入少许水,加入15ml王水(1+1)盖上表面皿,待剧烈反应停止后,放在电炉上加热溶解,并蒸至近干,取下,冷却至室温,将溶液移入100mL容量瓶中,用2%的盐酸溶液定容;

(2)样品的测定过程:

将以上溶解好的样品和含10g/L的硼氢化钾、11g/L铁氰化钾、12g/L的氢氧化钠的混合溶液,用2%的盐酸做载流一同引入原子荧光光谱仪中的反应系统,所产生的PbH4气体用氩气做载气引入原子荧光光谱仪中,在选定的仪器测定参数下,根据荧光强度和铅的浓度成正比的关系,定量测定铝锭产品中的微量铅。

本发明的方法所须配制的试剂有1、Pb标准溶液(1mg/mL),用时稀释到10μg/L;2、KBH4溶液10g/L;3、K3Fe(CN)6溶液11g/L;4、NaOH溶液12g/L;5、HCL溶液2%;6、王水(1+1);7、氩气(99.99%)。

本发明的方法测定所使用的仪器是原子荧光光谱仪。

本发明的方法所使用的样品应加工成厚度不大于1mm的碎屑。

本发明的方法选定的仪器测定参数为:负高压260V、灯电流60mA、观测高度8cm原子化温度200℃,载气流量400mL/min,屏蔽气流量800mL/min(不同型号的原子荧光光谱仪由于灵敏度不同,测定参数略有不同)。

本发明的方法一种通过对样品的反应条件的控制,用氢化物发生将铝锭中的微量铅富积起来,用原子荧光光谱法进行测定,取得了很好的结果。可以准确、快速的测定出铝锭中微量铅的含量,适用于全国所有的铝锭生产厂家进行微量铅的分析,以生产出达到国家标准质量要求的铝锭产品。

具体实施方式

一种铝锭中微量铅的测定方法,其测试过程是将称取的样品,用王水溶解,加入氧化剂使样品中低价态的铅离子氧化为高价态,用氢氧化钠溶液控制溶液的酸度,再与还原剂反应,使样品溶液中的铅离子转化为气态的氢化物,用氩气做载气将其引入原子荧光光谱仪测量系统,进行测定的。

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