[发明专利]全反射式高分辨率大视场傅立叶变换成像光谱仪的光路结构无效

专利信息
申请号: 200710099439.4 申请日: 2007-05-21
公开(公告)号: CN101050979A 公开(公告)日: 2007-10-10
发明(设计)人: 廖宁放;张丹;赵达尊;方俊永;梁敏勇 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01J3/453 分类号: G01J3/453;G01J3/18
代理公司: 北京理工大学专利中心 代理人: 杨志兵
地址: 100081北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 全反射 高分辨率 视场 傅立叶 变换 成像 光谱仪 结构
【权利要求书】:

1.一种全反射式高分辨率大视场傅立叶变换成像光谱仪的光路结构,其特征是在光学系统中采用一组菲涅尔双面反射镜(3)和另外三组三反射式消像散光学结构(1)、(4)和(5)。

2.权利要求1所述的全反射式高分辨率大视场傅立叶变换成像光谱仪的光路结构。整个光路结构包括三反射式前置望远镜(1)、狭缝(2)、菲涅尔双面镜(3)、三反射式后置准直镜(4)、三反射式柱面镜(5)、焦平面探测器(6);狭缝(2)位于其前方的三反射式前置望远镜(1)的焦平面上;菲涅尔双面镜(3)位于光学狭缝(2)之后;三反射式后置准直镜(4)的物方焦点与菲涅尔双面镜(3)的位置重合;三反射式后置准直镜(4)后设置有三反射式柱面镜(5)、焦平面探测器(6);狭缝(2)的方向垂直于纸面,三反射式柱面镜(5)母线分别与菲涅尔双面镜(3)两镜的交线及狭缝(2)垂直。上述三反射式消像散光学结构即可以采用同轴设计也可以采用离轴设计。

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