[发明专利]浮动式校检平台有效
申请号: | 200710098374.1 | 申请日: | 2007-04-23 |
公开(公告)号: | CN101294790A | 公开(公告)日: | 2008-10-29 |
发明(设计)人: | 田龙元 | 申请(专利权)人: | 严为民 |
主分类号: | G01B5/12 | 分类号: | G01B5/12 |
代理公司: | 北京万科园知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 张亚军;邢少真 |
地址: | 100011北京市东城区安*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 浮动 式校检 平台 | ||
1.一种浮动式校检平台,其底座上设置有测量元件本体、顶杆夹具及浮动工作台夹具,测量元件测头在测量元件本体的控制下水平移动,顶杆紧固在顶杆夹具上,浮动工作台紧固在浮动工作台夹具上,浮动工作台上设置有被检测物紧固夹具,其特征在于所述的被检测物紧固夹具(9)底部固联有浮动平台(11);所述的浮动平台(11)底面设置有导轨(1101),浮动工作台(12)上面设置有与导轨(1101)相配合的滑动件(13)。
2.根据权利要求1所述的浮动式校检平台,其特征在于所述的滑动件(13)选用滚珠、滚针、滑轨之一种或组合。
3.根据权利要求1所述的浮动式校检平台,其特征在于所述的浮动平台(11)底面为光滑平面或带沟槽的光滑平面,与浮动工作台(12)的光滑平面或带沟槽的光滑平面相配合。
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