[发明专利]检测系统的光源散射照明装置

说明书

技术领域

本发明涉及的是一种散射照明装置，尤其是指一种利用铁氟龙材料作为散射膜以及利用数组式光源来增加光源量以达到均匀散射光与提升照明强度的一种检测系统的光源散射照明装置。

背景技术

检测程序在产品的制造过程中，扮演相当重要的角色。利用检测装置撷取待测物的影像，透过自动或者是人工的判断，以辨别出产品，例如：面板、印刷电路板或者是芯片的缺陷，例如：杂质、线路短路或断路、刮伤等缺陷，以做好质量的控管。

请参阅图1所示，所述的图为现有技术所公开的散射照明装置示意图。所述的装置1具有一基座10、一反射罩体12、一发光装置13以及一面型影像撷取装置14。所述的基座10上承载有一待测物15。所述的反射罩体12设置在所述的基座10且罩覆在所述的待测物15上，所述的反射罩体12的上方开设有一槽孔16。所述的照明装置13设置在所述的反射罩体12之内壁边缘。所述的照明装置13所发射出的光源经由所述的反射罩体12散射至所述的待测物15上，以使所述的面型影像撷取装置14透过所述的槽孔16撷取所述的待测物15的影像，以进行检测。

又如美国专利US.Pat.No.6,341,878也是公开了类似前述的技术，其光源装置是以平面的背光源方式设置在待测物的下方。前述的技术类型的缺点在于仅适用在小面积的检测，并无法在高速下撷取待测物的影像。除此的外，前述技术的反射罩体内所涂布的光散射材料，如：SPECTRALON或者是SPECTRAFLECT等光散射材料，多为价格昂贵且有毒性的材料。为了减低成本，有些制造商以白漆来取代，如此反而降低散射光投射至待测物的强度。

由于面型扫瞄有速度上的缺点，因此发展了线扫瞄光电耦合组件(Charged-coupled device，CCD，以下简称线扫瞄CCD)来进行快速扫瞄。由于线扫瞄CCD具有量测速度快的特性，因此特别适合快速缺陷影像侦测。不过因为线扫瞄CCD扫瞄影像的方式是由复数个扫瞄线来构成一个扫瞄面，因此在高速扫瞄下线与线之间CCD的曝光时间变短，进而产生了线扫瞄CCD进光亮不足的问题。

为了解决这个问题，因此需要强度较大的投光系统，以及便宜散射效果良好的材料，使得线扫瞄CCD可以获得足够的亮度来撷取影像。因此亟需一种检测系统的光源散射照明装置来解决现有技术所产生的问题。

发明内容

本发明的主要目的为提供一种检测系统的光源散射照明装置，其是利用铁氟龙材料作为散射膜，达到提升散射效率以均匀光线以及降低成本的目的。

本发明的次要目的为提供一种检测系统的光源散射照明装置，其是高功率的发光二极管数组来提供照明，达到增加光线强度的目的。

本发明的另一目的为提供一种检测系统的光源散射照明装置，其是在发光源上设置有散热的机制，以避免光源温度过高，达到延长发光源寿命的目的。

为了达到上述的目的，本发明提供一种检测系统的光源散射装置，其是包含有：一反射罩体，其是开设有一槽孔；一铁氟龙(PTFE)散射层，其是设置在所述的反射罩体的内壁上；以及至少一发光装置，其是设置在所述的反射罩体内，所述的发光装置还具有复数个发光体，所述的复数个发光体是排成数组形式以提供光源。

较佳的是，所述的反射罩体为一圆形罩体。其中所述的发光装置为一环形数组的发光装置，其是设置在所述的圆形罩体开口之内壁周围。

较佳的是，所述的反射罩体为一椭圆形罩体。其中所述的发光装置为一环形数组的发光装置，其是设置在所述的椭圆形罩体开口之内壁周围。

较佳的是，所述的反射罩体为一半圆柱形罩体。其中所述的发光装置为一直线形数组的发光装置，其是设置在所述的半圆柱形罩体开口之内壁边缘。

较佳的是，所述的发光体为一发光二极管。其中所述的发光二极管的功率范围为3W～7W。

较佳的是，所述的发光装置还包括有：一基板，其是与所述的复数个发光体相耦接；以及一散热板，其是与所述的基板相连接，以吸收所述的复数个发光体所产生的热。所述的基板上还开设有复数个通孔，以将热传递至所述的散热板上。而所述的通孔还充填有一绝缘导热材料。此外所述的散热板上还具有复数个散热鳍片。

较佳的是，所述的发光装置还包括有：一基板，其是与所述的复数个发光体相耦接；一绝缘导热层，其是设置在所述的基板的一侧；以及一散热板，其是与所述的绝缘导热层相连接，以吸收所述的复数个发光体所产生的热。其中所述的基板上还开设有复数个通孔，以将热传递至所述的散热板上。而且，所述的通孔还充填有一绝缘导热材料。除此的外，所述的散热板上还具有复数个散热鳍片。

附图说明