[发明专利]内建备份元件分析器以及备份元件分析方法

权利要求书

1.一种内建备份元件分析器，内建于一晶片，该晶片包括多个可修复存储器，其特征在于该内建备份元件分析器包括：

一参数切换单元，根据一存储器错误信号产生该些可修复存储器当中一错误存储器的识别码，并根据该识别码提供一参数，其中该参数包括该错误存储器的行地址长度、列地址长度、字组长度、备份行数量、以及备份列数量；

一输入转换单元，耦接于该参数切换单元以接收该参数，根据该参数将一错误位置自该错误存储器的格式转换为该内建备份元件分析器的通用格式；以及

一分析转换单元，耦接于该参数切换单元以接收该参数，耦接于该输入转换单元以接收转为该通用格式的该错误位置，根据该参数以及该错误位置进行备份元件修复分析，将分析结果自该通用格式转换为该错误存储器的格式，然后输出该分析结果至该错误存储器。

2.根据权利要求1所述的内建备份元件分析器，其特征在于其中所述的存储器错误信号包括识别码，而且参数切换单元包括：

一资料储存装置，储存多个参数，每一该些参数对应该些可修复存储器其中之一；以及

一选择器，耦接于该参数切换单元的输入端与输出端之间，并耦接于该资料储存装置，根据该识别码自该资料储存装置读取对应该错误存储器的该参数，并输出该参数。

3.根据权利要求1所述的内建备份元件分析器，其特征在于其中所述的存储器错误信号包括多个错误状态信号，每一错误状态信号对应所述的可修复存储器其中之一，用以表示对应的可修复存储器的错误状态，而且参数切换单元包括：

一资料储存装置，储存多个参数，每一参数对应可修复存储器其中之一；

一编码器，耦接于该参数切换单元的输入端，根据该些错误状态信号产生该识别码；以及

一选择器，耦接于该参数切换单元的输出端，并耦接于该资料储存装置与该编码器，根据该识别码自该资料储存装置读取对应该错误存储器的该参数，并输出该参数。

4.根据权利要求1所述的内建备份元件分析器，其特征在于其中所述的错误位置包括三个成分，分别为一错误行地址、一错误列地址、以及一错误位元标示。

5.根据权利要求4所述的内建备份元件分析器，其特征在于其中对所述错误位置的每一成分而言，通用格式的成分长度大于或等于每一该些可修复存储器的成分长度。

6.根据权利要求5所述的内建备份元件分析器，其特征在于其中所述的输入转换单元将该错误位置的每一成分自错误存储器的长度转换为通用格式的长度。

7.根据权利要求1所述的内建备份元件分析器，其特征在于其中所述的分析转换单元的分析结果至少包括下列其中之一：至少一修复行地址、至少一修复列地址、以及一无法修复信号，而且该分析转换单元包括至少一转换暂存器以储存上述修复行地址和/或上述修复列地址。

8.根据权利要求7所述的内建备份元件分析器，其特征在于其中上述转换暂存器的个数大于或等于每一该些可修复存储器的备份元件个数，上述备份元件包括备份行与备份列，而且每一上述转换暂存器的长度大于或等于每一该些可修复存储器的行地址长度与列地址长度其中的最大值。

9.根据权利要求8所述的内建备份元件分析器，其特征在于其中所述的分析转换单元依照该错误存储器的备份行数量与行地址长度，以串接方式输出上述转换暂存器所储存的上述修复行地址至该错误存储器。

10.根据权利要求8所述的内建备份元件分析器，其特征在于其中所述的分析转换单元依照该错误存储器的备份列数量与列地址长度，以串接方式输出上述转换暂存器所储存的上述修复列地址至该错误存储器。

11.一种备份元件分析方法，用于一晶片，该晶片包括多个可修复存储器，其特征在于该备份元件分析方法包括以下步骤：

(a)、根据一存储器错误信号产生该些可修复存储器当中一错误存储器的识别码，并根据该识别码提供一参数，其中该参数包括该错误存储器的行地址长度、列地址长度、字组长度、备份行数量、以及备份列数量；

(b)、根据该参数将一错误位置自该错误存储器的格式转换为一通用格式；

(c)、根据该参数以及转为该通用格式的该错误位置进行备份元件修复分析；以及

(d)、将分析结果自该通用格式转换为该错误存储器的格式，然后输出该分析结果至该错误存储器。