[发明专利]陶瓷双列封装器件高加速离心试验夹具

说明书

(一)技术领域

本发明涉及一种陶瓷双列封装器件高加速离心试验夹具，适用于对陶瓷双列封装(DIP)器件进行高加速度(≥5000g)离心试验。

(二)背景技术

集成电路离心试验是考核元器件外壳封装、内引线键合、芯片的附着能力以及机械强度等所必不可少的试验项目之一。陶瓷双列封装(DIP)器件是元器件类中最常见的封装类型，该类器件包含三种类型的跨度：小型(7.62mm)，中型(10.16mm)，大型(15.24mm)。对该类器件进行离心试验主要采用埋砂和夹具两种方式。

埋砂方式是将试验器件放入填满石英沙的金属盒内配重后，金属盒再放入离心机环形转子中进行试验。该试验方式的优点是试验器件不受外形的限制，可以进行多方向的离心试验。其缺点是工作效率低，石英沙对盖板有损伤，单次试验的周期长(10分钟)、数量少；对于DIP器件中跨度大于10.16mm的，不能运用埋砂法进行高加速度离心试验。

夹具方式具有工作效率高、装夹方便的优点，是DIP器件进行高加速度离心试验采用较多的方式。目前使用的夹具主要分为两类：厂家提供的专用夹具和自制夹具。

厂家提供的专用夹具有以下缺点：1)夹具的通用性差，费用昂贵；2)由于一般采用磁性橡皮或内置胶皮，在进行高加速度离心试验时，金属盖板容易出现变形，陶瓷器件本体容易出现断裂，导致器件失效；3)只能进行单方向的离心试验，不能进行多方向离心试验。

自制夹具是使用者根据自身的要求自行设计制造的夹具。专利号为99214208.3的实用新型介绍了一种离心试验器件夹具，但对应用于DIP器件，它具有以下缺点：1)由于夹具受力面没有分层设计，容易造成金属盖板凹陷和DIP器件本体断裂；2)在装夹DIP器件时，装夹不便，并且对器件在夹具内的定位比较困难；3)只能进行单方向的离心试验，不能进行多方向离心试验。

(三)发明内容

为克服上述夹具存在的问题，即金属盖板凹陷和DIP器件断裂等问题，本发明设计了一种陶瓷双列封装器件高加速离心试验夹具，其包括有：

母夹具、装放待试验器件的子夹具和锁紧子夹具及固定器件的锁紧压板，母夹具内设计有与子夹具呈抽屉式配装的通槽，其左右侧壁上设计有螺钉式紧锁装置。

母夹具内的通槽为两个大小一致的方形箱槽，由中隔板分隔而成。

子夹具为对称台阶结构，其底板两端上设有定位挡板，中部开有一个凹槽。

所述螺钉式紧锁装置由对称设计在母夹具左右侧壁上的两个锁紧螺孔和装于锁紧螺孔的锁紧螺钉组成。

有益效果：

本发明的高加速离心试验夹具采用了一种新型“子母夹具组合型”方式，母夹具可通用，子夹具采用“抽屉式”的装载方式，具有以下优点：

1.由于子夹具对应器件外形采用了分层开槽的方法，确保了器件受力均匀，避免了器件在进行高加速离心试验时由于夹具的受力不均而造成的器件变形或断裂问题。

2.子夹具定位挡板的采用，可使器件在安置时轻松定位，减少了人为定位时的调整时间，提高了器件的装夹效率，从而提高了离心试验成功率和生产效率。

表1安装效率和生产效率比较表

  夹具类型  装夹只数/次  装夹时间/次  埋砂夹具  8只～12只  20～40分钟  本发明的夹具  24只  4～6分钟