[发明专利]基板测试接口及其方法

权利要求书

1. 一种基板测试接口，其特征在于，其包括：

一基板，其上包含若干第一电子元件与若干信号线且该第一电子元件是与该信号线相互连接；

一插槽，是位于该基板上，其可供插接一外接式适配卡并用以固定一除错卡；以及

一第一连接接口，位于该基板上之一区域并用以与该除错卡上的一第二连接接口相互连结，以通过该第一连接接口与该第二连接接口在该基板与该除错卡间传送一信号，其中该区域为该除错卡与该基板结合时，该除错卡于一轴向垂直映像至该基板的区域且该第一连接接口通过该信号线与部份该第一电子元件连接。

2. 如权利要求1项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该第一连接接口包括若干接触点，而该第二连接接口则为一弹片式连接器，其包括若干弹片，且该弹片的数量等于该接触点的数量。

3. 如权利要求1项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该插槽为该基板上的一SO-DIMM存储卡插槽，且其结构为一字状。

4. 如权利要求1项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该除错卡的一侧进一步具有若干金手指，其可经由该插槽取得该基板上的电源及接地信号。

5. 如权利要求1项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该除错卡包含若干第二电子元件，其包含一显示装置及一译码芯片，其中该译码芯片是耦接至该第二连接接口及该显示装置，且该第二连接接口是置于该除错卡上异于该第二电子元件的另一侧且相对于该第一连接接口的位置，以可与该第一连接接口接触。

6. 如权利要求1项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该轴向垂直于该基板的表面包含该第一电子元件。

7. 如权利要求1项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该外接式适配卡为一存储卡或显示卡，且该基板是为一桌上型计算机的主机板或笔记型计算机的主机板。

8. 如权利要求1项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该除错卡上进一步具有一连接器，以供与一第二基板连接。

9. 一种基板测试接口，其特征在于，其包括：

一第一基板，其上包含若干第一电子元件及若干信号线且该第一电子元件是与该信号线相互连接；

一插槽，是位于该基板上，其可供插接一外接式适配卡并用以固定一第二基板，其中该第二基板利用一信号连接线连接一除错卡且该第二基板上的零件高度低于该除错卡上的零件高度；以及

一第一连接接口，位于该第一基板上的一区域，并与该第二基板上的一第二连接接口相互连接，以通过该第一连接接口与该第二连接接口在该第一基板与该第二基板间传送一信号并将该信号由该信号连接线传送至该除错卡，其中该区域为该第二基板与该第一基板结合时，该第二基板于一轴向垂直映像至该第一基板的区域且该第一连接接口通过该信号线与部份该第一电子元件连接。

10. 如权利要求9项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该第一连接接口包括若干接触点，而该第二连接接口则为一弹片式连接器，其包括若干弹片，且该弹片的数量等于该接触点的数量。

11. 如权利要求9项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该插槽为该第一基板上的一SO-DIMM存储卡插槽，且其结构为一字状。

12. 如权利要求9项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该第二基板包含一第一连接器及一第二连接器，该除错卡包含若干第二电子元件及一第三连接器，该若干第二电子元件包含一显示装置及一译码芯片，其中该译码芯片是耦接至该第三连接器及该显示装置，且该第二连接接口是置于该第二基板上异于该第一连接器及第二连接器的另一侧且相对于该第一连接接口的位置，可与该第一连接接口接触。

13. 如权利要求12项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该第一连接器是为一SUPER I/O连接器，且该第二连接器由该信号连接线与该第三连接器连接。

14. 如权利要求9项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该轴向垂直于该基板的表面包含该第一电子元件。

15. 如权利要求9项所述的基板测试接口，其特征在于，其中该第二基板上进一步具有一第四连接器，其供与一键盘连接。