[发明专利]一种功率放大器的批量检测方法和装置

说明书

技术领域

本发明涉及功率放大器领域，尤其涉及一种功率放大器模块的批量检测方法和装置。

背景技术

在现代无线通讯领域中，功放模块是基站侧一个十分重要且昂贵的部件，同时又是系统中一个比较薄弱的部件。功放的性能指标对整个基站通讯系统性能指标影响至关重要。功放的质量和可靠性严重影响到整个基站的质量和可靠性。面对通讯领域的蓬勃发展，对功放的需求数量十分巨大，同时对功放的质量和可靠性要求也日益提高。

现有技术中的功放模块检验测试系统如图1所示，该系统包括待测试功率放大器、射频信号源、直流电源、衰减器以及频谱分析仪。射频信号源产生射频信号作为待检测功率放大器的输入信号，直流电源为待检测功率放大器提供直流电，衰减器对功率放大器的输出信号进行衰减以保证输入到频谱仪的信号功率在频谱仪的允许测量范围内，频谱仪用于测量功率放大器输出信号的频谱特性，例如输出功率、邻近信道功率比(ACPR)及杂散等。

而上述功放模块的检测系统存在以下缺点：

首先，每台功放测试过程需要耗时几分钟到十几分钟，每次检测一台功放，逐台依次检测，这样会大大降低功率放大器大批量生产时的检测速度和效率。

其次，针对高端通讯市场的需求，需要对功放模块进行高温ESS(Environmental Stress Screening，环境应力筛选)筛选，把质量和可靠性较差的功放筛选出来，发给用户稳定可靠的高质量功放。高温筛选老化过程需要是一种动态调节控制的过程。在整个老化过程中，系统需要能够动态地调节每个功放的输入信号，使得每个功放的输出功率都达到额定功率，并且实时跟踪每台功放的运行状态和功能指标。现有老化装置多为静态老化系统，只给被测功率放大器上电但不加射频信号，无法达到动态老化筛选目的。

所以，现有的功放模块检测系统需要有所改进，以适应功率放大器的大批量检测需要。

发明内容

本发明的目的在于提供一种功率放大器的批量检测方法和装置，用于克服现有技术中存在的功放(即功率放大器)批量生产时出厂检验和功放外购件来料检验效率低、功放高温老化过程中不能实时动态调节多台功放输入信号使得每台功放都达到额定输出功率等的缺点。为了达到上述目的，本发明采用以下技术方案。

本发明的批量检测装置，该装置包括一射频信号源，其还包括：功率分路模块，该模块串联在所述射频信号源与多个待测试的功率放大器之间，用于将所述射频信号源产生的射频信号进行分路，并分别送入到多个待测试的功率放大器中作为功率放大器的输入信号；大功率衰减器模块，用于对多个待测试的功率放大器输出的多路信号进行衰减，并获得多路检测信号；功率检测模块，用于对多路检测信号分别进行耦合、并检测功率值；及一控制电路模块，用于对所述功率放大器的输入信号进行调节、读取功率检测值并存储，该模块的射频链路控制端连接功率分路模块的控制端，该模块的功率检测输入端连接所述功率检测模块的输出端。

其中，所述功率分路模块包括信号放大电路、功率分路器和至少一个信号衰减器，所述射频信号源产生的射频信号依次经信号放大电路、功率分路器后输出多路射频输入信号，每一路射频输入信号均经过一个信号衰减器后输出一路衰减输入信号，多路衰减输入信号分别输入到多个待测试的功率放大器中作为功率放大器的输入信号，所述信号衰减器的控制端与所述控制电路模块的射频链路控制端相连。

其中，所述装置还包括：射频开关模块，用于选择多路检测信号中的一路进行功率测试，该模块的多路信号输入端分别接收来自所述大功率衰减器模块的多路检测信号，该模块的输出端连接所述功率检测模块的输入端，该模块的控制端连接所述控制电路模块的开关控制端。

其中，所述装置还包括：信号分析仪，用于测量待测试功率放大器输出信号的指标特性，并将数据上传至PC机，该分析仪的输入端连接所述射频开关模块的输出端。

其中，所述装置还包括：PC机，该PC机与所述控制电路模块相连，用于控制功率放大器的状态及运行状态，以及控制射频开关选择测试通道并收集测试数据。

其中，所述大功率衰减器模块包括至少一个大功率衰减器，所述大功率衰减器的个数与待测试功率放大器的个数相同。

本发明的批量检测方法，其包括以下步骤：

A、将射频信号源产生的射频信号进行分路后，分别送入到多个待测试的功率放大器中作为功率放大器的输入信号；

B、将所述多个待测试的功率放大器输出的多路大功率信号分别进行衰减，获得多路检测信号；