[发明专利]光学检查系统无效

专利信息
申请号: 200710076566.2 申请日: 2007-08-24
公开(公告)号: CN101373202A 公开(公告)日: 2009-02-25
发明(设计)人: 叶佐鸿;杨智康;萧智龙;张宏毅 申请(专利权)人: 富葵精密组件(深圳)有限公司;鸿胜科技股份有限公司
主分类号: G01R31/02 分类号: G01R31/02;G01R31/309
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518103广东省深*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光学 检查 系统
【权利要求书】:

1.一种光学检查系统,包括机台、第一发光装置、第二发光装置、摄像装置及显示装置,所述第一发光装置、第二发光装置、摄像装置及显示装置设置于机台,所述第一发光装置与第二发光装置相对设置,分别用于照明待检查物件的相对的两个表面,所述摄像装置用于摄取物件的第一发光装置所照明的表面的图像,所述显示装置与摄像装置相连接,用于显示摄像装置摄取的图像。

2.如权利要求1所述的光学检查系统,其特征在于,所述第一发光装置与摄像装置相邻设置。

3.如权利要求2所述的光学检查系统,其特征在于,所述第一发光装置为圆环形,中部具有一圆孔,所述摄像装置设置于所述圆孔中。

4.如权利要求2所述的光学检查系统,其特征在于,所述第一发光装置包括第一光源和第二光源,所述摄像装置设置于所述第一光源和第二光源之间。

5.如权利要求1所述的光学检查系统,其特征在于,所述第二发光装置为圆环形、长方体形或椭球形。

6.如权利要求1所述的光学检查系统,其特征在于,所述第一发光装置和第二发光装置之间的距离为100~400毫米。

7.如权利要求1所述的光学检查系统,其特征在于,所述第一发光装置、第二发光装置为发光二极管光源、冷阴极荧光管光源或电致发光光源。

8.如权利要求1所述的光学检查系统,其特征在于,所述光学检查系统还包括一由透明材料制成的支撑架,所述支撑架位于第一发光装置与第二发光装置之间,用于支撑待检查物件。

9.如权利要求8所述的光学检查系统,其特征在于,所述支撑架与第二发光装置之间的距离为50~100毫米。

10.一种光学检查系统,用于检查单面电路板的导电图形,该单面电路板具有相对的第一表面和第二表面,所述第一表面具有导电图形,该光学检查系统包括机台、第一发光装置、第二发光装置、摄像装置及显示装置,所述第一发光装置、第二发光装置、摄像装置及显示装置设置于机台,所述第一发光装置用于照明单面电路板的第一表面,所述第二发光装置与第一发光装置相对设置,用于照明单面电路板的第二表面,所述摄像装置与第一发光装置相邻设置,用于摄取单面电路板第一表面的图像,所述显示装置与摄像装置相连接,用于显示摄像装置摄取的图像。

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