[发明专利]一种测试多径衰落的方法、装置和系统

说明书

技术领域

本发明涉及移动多径和衰落传播环境的测试，尤其涉及的是，一种测试多径衰落的方法、装置和系统。

背景技术

目前，全球数字移动用户已经达到13亿，而且随着中国3G牌照的发放该数字有望在未来几年内翻一番。随着市场对终端业务的需求日益增长，产品在上市入网前后对其性能的测试也日益苛刻，尤其是现在移动通信网的环境日益复杂恶化，运营商对终端产品的抗多径衰落指标测试越来越细致。

通常终端的多径衰落测试如图1所示，使用一个模拟基站，如德国的罗德与施瓦茨公司(R&S)的综合测试仪CMU200，将综合测试仪(简称综测仪)上行和下行分开，在下行方向的射频电缆中间连上信道模拟器，如思博伦公司的SR5500，然后接上终端，以下采用UMTS制式的终端为例子，测试时将综测仪的信道设置到9750，然后对上行，下行射频链路的损耗分别进行设置，被测终端开机与综测仪建立呼叫，此时用计算机控制信道模拟器SR5500将衰落模式设置到WCDMA协议3GPP(第三代合作伙伴计划)TS 34.121 V6.3.0(2005-12)7.3 D.2.2Multi-path fading propagationconditions中的CASE1模式，在SR5500中按照3GPP的规定有设置好的各个衰落模式，用户直接可以选用；对终端接收机的抗多径衰落性能进行测试，得出最终的结果，完成这一事例(CASE，亦称测试模式)的测试。

对于大多数的终端设备厂商来说，购买一台信道模拟器费用高昂，一般超过100万元人民币，因此厂家对其终端产品的指标一般不作测试。但是这给产品的入网认证带来了很大的隐患，一旦在入网认证时才发现问题，解决起来异常困难。

因此，现有技术存在缺陷，需要改进。

发明内容

本发明的目的在于为移动终端产品提供一种简单、有效的测试多径衰落的方法、装置和系统，给企业节约费用，给工程师提供方便，缩短产品开发周期，提升产品质量。

本发明的技术方案如下：

一种测试多径衰落的方法，其包括步骤：A1、根据行业标准，选择多径衰落的测试模式；A2、启动综合测试仪，依据所述测试模式，设置所述综合测试仪的参数；A3、依据所述测试模式确定各信道路径的时延，设置各信道路径的延时器；A4、依据所述测试模式确定各信道路径的衰减量，设置各信道路径的衰减器；A5、建立所述综合测试仪与测试终端的通信；A6、进行所述测试终端的多径衰落性能测试。

所述的方法，其中，步骤A4包括单独或组合设置固定衰减器、调节可调衰减器或电调衰减器的衰减量。

所述的方法，其中，步骤A3包括单独或串联设置延时线，用作延时器。

一种测试多径衰落的装置，其中，其包括由延时器和用于调节信号幅度的衰减器串联构成的信道路径。

所述的装置，其中，其包括至少两条并联的所述信道路径。

所述的装置，其中，所述延时器是单独或串联的延时线。

所述的装置，其中，所述衰减器包括固定衰减器、可调衰减器或电调衰减器。

一种测试多径衰落的系统，包括综合测试仪和双工机，其中，还包括至少两条并联的信道路径，所述信道路径由延时器和用于调节信号幅度的衰减器串联构成。

所述综合测试仪通过所述信道路径发送测试多径衰落的信号到所述双工机，接收从测试终端返回到所述双工机的反馈信号。

所述的系统，其中，所述延时器是单独或串联的延时线。

所述的系统，其中，所述衰减器包括固定衰减器、可调衰减器或电调衰减器。

采用上述方案，本发明提供了一种测试多径衰落的替代方案，费用低，约为购买信道测试仪费用的1/100至1/30；将测试环境搭建完成后，可以固化，反复使用，操作简单，适合在广大测试人员中推广，给企业节约了费用，给工程师提供方便，缩短产品开发周期，最终提升产品质量和企业的核心竞争力。

附图说明

图1为现有技术的实现示意图；

图2是本发明系统的一种实施方式的示意图；

图3是本发明方法的一种实施方式的流程图。

具体实施方式

以下对本发明的较佳实施例加以详细说明。

如图3所示，本发明提供了一种测试多径衰落的方法，其包括步骤：