[发明专利]一种电磁高频输送LED装置

说明书

技术领域

本发明涉及一种检测装置，具体是指用于LED检测过程中的输送装置。

技术背景

进入21世纪以来，LED的技术已经有了极大进步，在散热、封装、工艺技术方面的进步使得LED有了更高的亮度、更高的效率、更长的寿命和更低的成本。在当前全球加强环保、节能技术研发的时候，LED的照明的节能、高效率优势将近获得照明市场的青睐。在我国，大功率LED作为一个新的产品，是国家绿色照明工程中明确推广使用的产品。半导体光源作为光源的固态照明灯，有着效率高、节能、环保、无污染和热辐射、经久耐用、照度充足的特点。在未来10-20年内，将逐渐取代传统的照明灯，大功率LED将作为新一代光源在照明领域中广泛推广使用。

在大功率LED(POWER LED)技术突飞猛进的今天，测试作为LED研发、生产过程中不可或缺的一个重要环节，越来越凸显其在产品开发生产过程中的指导性意义，并且作为产品质量控制和筛选的重要手段，无论从速度上还是准确性方面都对LED测试原理和测试方式提出了更高的要求。

传统的大功率LED测试方式是：对所有待测的LED参数分步在不同的仪器上或同一仪器的不同功能选项下单独测试，然后对测得的参数进行汇总分析，得出该产品的总体性能指标并分类；在LED早期发展阶段，该方法完全满足LED企业产品研发和品控的要求，但随着产品种类和数量的雪崩式增长，其弊端是显而易见的；第1，测试速度远远不能满足需要，以360芯每小时工位的测试速度，一个熟练工每八小时的分BIN数是2880芯，这大大增加了产品的生产成本，降低了产品竞争力。第2，人工测试无法排除主观因数影响，不同测试人员对产品的测试结果将产生一定的误差，严重时对产品性能造成误判而导致质量事故。第3，在大功率LED测试过程中，测试速度显得尤其重要，特别是在未安装散热装置的裸片测试中，长时间的测试过程会因芯片发热而影响测试参数的正确性，因为对大功率LED来说，芯片的结温本身就是一个重要参数，许多光、电参数的测试只有在一定的结温下才有意义，而人工测试无法控制测试条件在时序上的一致性，甚至无法在芯片允许的时间内完成测试；举例说，大功率裸片只允许数秒甚至几个毫秒的满电流加载时间，在这么短的时间内要测出其正确的光、电参数是不可能的，测出的结果也因为结温大大高出其正常工作条件而变的毫无意义。

全自动方式测量作为今后LED行业特别是大功率LED来说是必然趋势，近几年来国内外少数企业也陆续推出过一些半自动、准自动化LED测试机，但因存在各种缺陷无法在市场推广。研制一套适合国内LED企业使用需求、价格适中、功能全面、性能可靠的大功率LED测试仪已迫在眉睫。

发明内容

本发明针对现有技术中的不足，提出了一种切实可行、操作方便的装置，可以有效解决目前技术中的不足。

本发明是通过下述技术方案得以实现的：

一种电磁高频装置，它包括机架1、滑道2，其特征在于在滑道2上安装有高频发生器。这样可以使滑道2与高频发生器5一起作高频率振动，位于滑道2上的检测部件LED6处于悬浮状态，从而使LED6在输送过程中不会卡住，实现无阻碍前进。

作为优选，上述的装置，在滑道2与机架1中间放置有缓冲装置，可以有效确保整个装置的平衡状态，不至于因高频发生器5的工作而使整个设备不平稳。一般在滑道2与机架1中间放置的缓冲装置为滑道弹性垫3，可以实现缓冲作用，而且又经济实惠。

作为优选，上述的装置，所述的高频发生器5的频率为20~1000Hz。作为更佳选择，所述的高频发生器5的频率为20~500Hz。作为最佳选择，所述的高频发生器5的频率为20~200Hz。

作为优选，上述的装置，所述的滑道2是由滑道盖7、滑道体8组成，LED6可以在滑道盖7与滑道体8组成的内空间滑动，也确保LED6不至于跳出滑道2而无法检测，起到一个相对固定的作用。

本发明中的积分球4又称光度球，是一个球形空腔，一般由两个内壁涂以白色漫反射层(硫酸钡或氧化镁)的半球壳组装而成。积分球4测量原理：光源所发射的光经球壁多次漫反射后，使整个球壁上的照度均匀分布，故通过球壁上的窗口射到光电探测器上的光通量应正比于光源所发射的总光通量。光通量测量原理：在积分球内用已知光通量的标准等与被测灯做比较测量，从而定出被测灯的光通量。

有益效果：本装置在使用过程中操作简便、有效解决LED6检测过程中的卡道现象，提高了检测效率，降低生产成本，误差率小。

附图说明

图1检测装置结构示意图

图2滑道与机架连接示意图

图3滑道部分示意图