[发明专利]δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法无效
申请号: | 200710065182.0 | 申请日: | 2007-04-05 |
公开(公告)号: | CN101281941A | 公开(公告)日: | 2008-10-08 |
发明(设计)人: | 魏鸿源;刘祥林;张攀峰;焦春美;王占国 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L21/04 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 掺杂 制备 氧化锌 薄膜 方法 | ||
1. 一种δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1:将清洗好的衬底放入反应室中,将反应室抽至真空,升高温度进行烘烤,以获得清洁衬底;
步骤2:向反应室中充入氮气,将反应室压强升至生长压强,将衬底温度控制到生长温度;
步骤3:向反应室中通入锌源,氧源和氮源,在衬底上外延ZnO:N薄膜;
步骤4:停止通入氧源,并继续通入锌源和氮源,在ZnO:N薄膜上外延氮化锌薄层;
步骤5:再开启氧源,并继续通入锌源和氮源,在氮化锌薄层上继续外延ZnO:N薄膜;
步骤6:重复步骤4、步骤5,直至生长的薄膜达到需要的厚度为止;
步骤7:在氨气氛或者氮气氛下进行退火,完成P型氧化锌薄膜的制备。
2. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,其中所述的生长温度为200-500℃,衬底烘烤的时间不小于10分钟。
3. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,其中所述生长压强为20-200托。
4. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,其中所述生长温度为200-500℃。
5. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,其中所述衬底为蓝宝石或硅、III-V族材料、陶瓷、玻璃、氧化锌。
6. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,其中所述锌源为二乙基锌或者二甲基锌。
7. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,其中所述氧源为氧气或者离化的二氧化碳。
8. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,其中所述氮源为氨气或联氨、离化的氮气、离化的一氧化氮。
9. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,其中所述在步骤3和步骤5中生长ZnO:N薄膜的厚度为20nm-100nm。
10. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,其中在步骤4中生长氮化锌薄层厚度为1nm-20nm。
11. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化锌薄膜的方法,其特征在于,其中所述在步骤6中重复步骤5、步骤5时可以改变步骤4、步骤5中ZnO:N层和氮化锌层的厚度,生长达到需要的厚度时,最终氮化锌的层数比ZnO:N层数少1层。
12. 如权利要求1所述的δ掺杂制备P型氧化新薄膜的方法,其特征在于,其中所述步骤7中的退火,退火温度在500℃-900℃,退火时间不少于30分钟。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所,未经中国科学院半导体研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200710065182.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。