[发明专利]一种校正透镜成像不均一性、提取透镜参数的方法及装置有效
申请号: | 200710065174.6 | 申请日: | 2007-04-05 |
公开(公告)号: | CN101051117A | 公开(公告)日: | 2007-10-10 |
发明(设计)人: | 沈操;王浩 | 申请(专利权)人: | 北京中星微电子有限公司 |
主分类号: | G02B27/00 | 分类号: | G02B27/00;G06T5/00 |
代理公司: | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 | 代理人: | 黄志华 |
地址: | 100083北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 校正 透镜 成像 不均一性 提取 参数 方法 装置 | ||
1.一种校正透镜成像不均一性的方法,其特征在于,包括步骤:
获取透镜所成的扭曲图像;
根据校正参数对扭曲图像中各像素点的像素值进行操作,得到校正图像,所述校正参数包括校正乘作用因子和校正加作用因子,是依据透镜参数得到的,所述透镜参数包括透镜加作用因子和透镜乘作用因子,透镜加作用因子与透镜的输入图像为零时输出的黑图像相等,透镜乘作用因子是透镜的输入图像为亮度均匀的白纸或灰纸时输出的白图像与所述黑图像之差与常数k的商,校正加作用因子与透镜加作用因子成负数关系,校正乘作用因子与透镜乘作用因子成倒数关系;所述校正参数对扭曲图像中各像素点的像素值进行操作通过公式Re(x,y)=[Out(x,y)+Reoffset(x,y)]*[Regain(x,y)]实现,其中,Out(x,y)为所述扭曲图像,Re(x,y)为所述校正图像,Reoffset(x,y)为所述校正加作用因子,Regain(x,y)为所述校正乘作用因子。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法之前,进一步包括以下步骤:
提取透镜参数,所述透镜参数是由透镜的特性决定的;
根据所得透镜参数确定校正参数。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,所述校正参数包括校正加作用因子和校正乘作用因子,所述根据所得透镜参数确定校正参数的处理包括:对透镜加作用因子取负数得到校正加作用因子,对透镜乘作用因子取倒数得到校正乘作用因子。
4.如权利要求3所述的方法,其特征在于,所述常数k是白图像中的最大值和黑图像中的最小值的差值。
5.一种校正透镜成像不均一性的装置,其特征在于,包括:
存储单元,用于储存依据透镜参数确定的校正参数,所述校正参数包括校正乘作用因子和校正加作用因子,所述透镜参数包括透镜加作用因子和透镜乘作用因子,透镜加作用因子与透镜的输入图像为零时输出的黑图像相等,透镜乘作用因子是透镜的输入图像为亮度均匀的白纸或灰纸时输出的白图像与所述黑图像之差与常数k的商,校正加作用因子与透镜加作用因子成负数关系,校正乘作用因子与透镜乘作用因子成倒数关系;
校正单元,用于根据所述校正参数对扭曲图像中各像素点的像素值进行操作,得到校正图像;所述校正参数对扭曲图像中各像素点的像素值进行操作通过公式Re(x,y)=[Out(x,y)+Reoffset(x,y)]*[Regain(x,y)]实现,其中,Out(x,y)为所述扭曲图像,Re(x,y)为所述校正图像,Reffset(x,y)为所述校正加作用因子,Regain(x,y)为所述校正乘作用因子。
6.如权利要求5所述的装置,其特征在于,所述装置进一步包括透镜参数提取单元和参数转换单元,其中:
所述透镜参数提取单元,用于提取由透镜的特性决定的透镜参数;
所述参数转换单元,用于对所述透镜参数进行处理,输出校正参数。
7.如权利要求6所述的装置,其特征在于,所述透镜参数提取单元,包括:
加作用因子提取单元,用于根据输入的黑图像提取透镜加作用因子;
乘作用因子提取单元,用于根据输入的黑图像和白图像提取透镜乘作用因子。
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