[发明专利]一种纳米间隙电极的制备方法无效
申请号: | 200710062832.6 | 申请日: | 2007-01-18 |
公开(公告)号: | CN101226879A | 公开(公告)日: | 2008-07-23 |
发明(设计)人: | 刘云圻;魏大程;曹灵超;李祥龙;王钰;张洪亮;石大川;于贵 | 申请(专利权)人: | 中国科学院化学研究所 |
主分类号: | H01L21/28 | 分类号: | H01L21/28 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 周长兴 |
地址: | 100080北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 纳米 间隙 电极 制备 方法 | ||
1.一种纳米间隙电极制备方法,其具体步骤如下:
a)在不受电子束破坏的纳米材料上制备具有较大间隙的电极对;
b)在电极对的表面吸附电子束诱导沉积的原料分子;
c)将电子束聚焦在电极对的间隙区域;
d)当电极间隙达到所需的宽度时,停止电子束照射,制备得到纳米间隙电极。
2.如权利要求1所述的制备方法,其中,步骤a采用光刻技术、电子束曝光技术、电流烧蚀技术、断结技术、电化学沉积技术、纳米线模板技术或聚焦离子束烧蚀技术制备电极对。
3.如权利要求1所述的制备方法,其中,步骤a中不受电子束破坏的纳米材料为金属、无机半导体材料或导电性有机材料。
4.如权利要求1或3所述的制备方法,其中,不受电子束破坏的纳米材料为金、银、铜、铁、铝、硅、锗、聚乙撑二氧噻吩或碳纳米管。
5.如权利要求1所述的制备方法,其中,步骤c的电子束能量为0.1至1000千电子伏。
6.如权利要求1所述的制备方法,其中,步骤c的电子束密度为105至1010安培每平方米。
7.如权利要求1所述的制备方法,其中,步骤d的电极间隙为2至100纳米。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造