[发明专利]一种用漏孔法绘制压差与泄漏量关系曲线的方法

说明书

(一)技术领域

本发明涉及一种密封品的检漏方法，特别是一种用漏孔法绘制压差与泄漏量关系曲线的方法。

(二)背景技术

目前密封品检漏装置使用的方法主要有：染料渗透检漏法、升温气泡发射检漏法、重量增加检漏法、放射性同位素检漏法以及光学检漏法等。这些方法工艺复杂、效率低、成本高，其中有的方法还属于破坏性检验方式。另外还有一种差压式气密检漏法，主要用于非密封品如汽车油箱、空调管路等的泄漏检测，但是不能用于密封品如电子芯片等的检漏。我们已经研制了差压式密封品检漏装置，但是用差压式密封品检漏装置进行检测时，首先需要绘制压差与泄漏量关系曲线，作为判定密封品是否合格的依据。现在绘制压差与泄漏量对应关系曲线图主要是采用理论计算法，即根据差压检漏的基本公式，结合密封品差压检漏的相关条件，推导出压差的时变计算公式以及小漏率检测、大漏率检测的计算公式，再将被测件的内容积、被测件密封容器的剩余容积、测试管路的容积、测试压力等各个参数分别代入公式，通过计算得到相关数据即可绘制出压差与泄漏量对应关系曲线图。由于计算时涉及参数较多，计算步骤非常复杂，且选择的各种参数与实际数据存在比较大的误差，所以使用理论计算法绘制曲线准确率低，使用效果不理想。

(三)发明内容

本发明的目的是针对上述存在的问题，提供一种原理科学、不需要复杂计算、检测准确、操作简单、易于实施的用漏孔法绘制压差与泄漏量关系曲线的方法。

本发明的技术方案：

一种用漏孔法绘制压差与泄漏量关系曲线的方法，其特征在于：采用带容积漏孔器在密封品检漏装置上进行，带容积漏孔器为带有一个已知漏率的漏孔并具有固定内腔容积的容器，其实施步骤如下：

1)据被测件所需检测范围由小到大设置至少5个检测点，即采用至少5个不同漏率的带容积漏孔器，带容积漏孔器的内腔容积和被测件的内腔容积相等；

2)将两个已知不漏的被测件分别放入被测件密封容器和基准件密封容器内，在放置被测件的密封容器上接入其中一个已知漏率的带容积漏孔器；

3)利用差压式密封品检漏装置对被测件密封容器和基准件密封容器进行充压或抽真空，并达到规定的测试压力；

4)利用差压式密封品检漏装置进行小漏率检测：通过差压式密封品检漏装置记录差压压力传感器产生的压差；

5)利用差压式密封品检漏装置进行大漏率检测：通过差压式密封品检漏装置记录差压压力传感器产生的压差；

6)将带容积漏孔器卸下，再分别将其余带容积漏孔器接入被测件密封容器，重复3)～5)操作，通过差压式密封品检漏装置分别记录差压压力传感器产生的压差，完成压差与泄漏量关系曲线图中的小漏率检测曲线的绘制和大漏率检测曲线绘制。

本发明工作原理：使用差压式密封品检漏装置对密封品检漏，当密封品不漏时，检漏装置的差压传感器不会产生压差。在差压气密检漏装置的两个密封容器中放置已知不漏的两个被测件，并将一个已知漏率的带容积漏孔器接入差压气密检漏装置的被测件密封容器上；当该检漏装置调整在小漏率检测时，差压传感器上反应的压差值即小漏率检测压差；当该检漏装置调整在大漏率检测时，差压传感器上反应的压差值即大漏率检测压差；重复上述过程，用不同已知漏率的带容积漏孔器进行检测，即可得到一组漏率与压差的对应数据，根据这些对应数据即可在压差与泄漏量对应关系曲线图中分别绘出小漏率检测曲线和大漏率检测曲线。

本发明的优点是：1.原理科学、不需要复杂计算；2.操作简单实用、易于实施；3.利用所绘曲线进行检测，准确率较高。

(四)附图说明

附图1：差压式密封品检漏装置气动回路示意图。

附图2：压差与泄漏量关系曲线图。

图1中：1.气源2.充压阀3.第一平衡阀4.第二平衡阀5.第一配容容器6.第一大漏率检测阀7.差压压力传感器8.第二大漏率检测阀9.第二配容容器10.被测件11.被测件密封容器12.基准件13.基准件密封容器14.带容积漏孔器

(五)具体实施方式

实施例：一种用漏孔法绘制压差与泄漏量关系曲线的方法，采用带容积漏孔器在差压式密封品检漏装置上进行，被测件为电子芯片，其内腔容积为10立方毫米。附图1为该差压式密封品检漏装置气动回路示意图，其由气源1、充压阀2、第一平衡阀3、第二平衡阀4、第一配容容器5、第一大漏率检测阀6、差压压力传感器7、第二大漏率检测阀8、第二配容容器9、被测件10、被测件密封容器11、基准件12和基准件密封容器13组成并通过管路连接。具体实施步骤如下：