[发明专利]快速探测宽谱面光谱的方法有效

专利信息
申请号: 200710058715.2 申请日: 2007-08-10
公开(公告)号: CN101135589A 公开(公告)日: 2008-03-05
发明(设计)人: 王庆有 申请(专利权)人: 天津市耀辉光电技术有限公司
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/18
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 王丽
地址: 300190天津市南开区工业*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 快速 探测 宽谱面 光谱 方法
【权利要求书】:

1.一种快速探测宽谱面光谱的方法,包括光栅摄谱仪和多个CCD器件;其特征是在光栅摄谱仪的谱面位置安装由多个线阵CCD器件,线阵CCD采用首尾交错拼接,并使前面CCD的末尾像元与后面CCD的首像元在垂直像元排列方向上重合。

2.如权利要求1所述的快速探测宽谱面光谱的方法,其特征是所述的拼接时使两行线阵CCD像敏阵列的中心距小于等于12mm,拼接起来的探测器在240mm宽的范围内探测谱线高度超过12mm高的光谱。

3.如权利要求1所述的快速探测宽谱面光谱的方法,其特征是所述的多个线阵CCD在同步驱动器的作用下同步并行输出多个时序信号,采用多路同步并行A/D转换器进行同步并行转换的方法,由同步逻辑控制器产生同步A/D转换的启动脉冲,控制多路A/D转换器对多个时序信号进行并行转换并分别存于相应的静态存储器,然后再经计算机接口电路送入计算机内存。

4.如权利要求1所述的快速探测宽谱面光谱的方法,其特征是所述的探测宽谱面光谱由三维图谱显示,送入计算机内存的数据在软件的支持下将所采集的光谱数据按采集时间间隔、光谱波长和光谱强度等三维坐标以图像与三维坐标的方式显示所采集的光谱,在计算机显示器上以X、Y、Z直角坐标系显示快速测出的光谱线图与谱图。

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