[发明专利]高电源抑制的带隙基准源无效
| 申请号: | 200710053294.4 | 申请日: | 2007-09-20 | 
| 公开(公告)号: | CN101131592A | 公开(公告)日: | 2008-02-27 | 
| 发明(设计)人: | 邹雪城;陈晓飞;刘占领;雷鑑铭;刘政林;郑朝霞 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 | 
| 主分类号: | G05F3/24 | 分类号: | G05F3/24;H03M1/34;H03M1/66 | 
| 代理公司: | 华中科技大学专利中心 | 代理人: | 曹葆青 | 
| 地址: | 430074湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 电源 抑制 基准 | ||
1.一种高电源抑制的带隙基准源,其特征在于:它包括自偏置电路(1)、调整电路(2)、带隙核心电路(3)和启动电路(4);其中,
带隙核心电路(3)包括NPN晶体管Q1、Q2、Q6、Q7和Q8,PNP晶体管Q3、Q4和Q5,还包括电阻R1、R2、R3、R4以及电容C1;NPN晶体管Q1和Q2的基极分别接在电阻R3的两端,发射极连在一起,共同接在电阻R4上,电阻R4的另一端接地;NPN晶体管Q1和PNP晶体管Q3的集电极接在一起,NPN晶体管Q2和PNP晶体管Q4的集电极接在一起;NPN晶体管Q2和PNP晶体管Q4的基极电位相同,发射极电位均接在基准输出电压VREF上;PNP晶体管Q5的发射极接在基准输出电压VREF上、基极接在NPN晶体管Q2与PNP晶体管Q4的集电极上,NPN晶体管Q6的发射极接地、基极和NPN晶体管Q8的基极连在一起,而PNP晶体管Q5和NPN晶体管Q6的集电极接在一起,共同接在NPN晶体管Q7的基极;NPN晶体管Q7的发射极和基极分别接地和基准输出电压VREF;NPN晶体管Q8的集电极和基极连一起,接在电阻R3上;电阻R2的一端接在电阻R3上,另一端接在基准输出电压VREF上;电阻R1的一端接在NPN晶体管Q7的基极,另一端接在电容C1上;而电容C1的另一端接在PNP晶体管Q5的基极;基准输出电压VREF作为输出端接在外围的电路上;
启动电路(4)在电源电压VIN上电时工作,产生电流并输送至自偏置电路(1)中,以驱动自偏置电路(1)导通;自偏置电路(1)接收到启动电路(4)提供的电流后开始导通,通过自身的偏置作用来产生与电源电压VIN无关的偏置电压,并输送至调整电路(2)中,同时把启动电路(4)关闭;调整电路(2)接收到自偏置电路(1)输出的偏置电压后,通过自身的调整作用来产生恒定的电流并输出至带隙核心电路(3)中;带隙核心电路(3)接收到调整电路(2)提供的恒定电流后,通过自身的运转来产生带隙基准电压VREF,并把它作为整个带隙基准源的输出。
2.根据权利要求1所述的带隙基准源,其特征在于:自偏置电路(1)包括电阻R5、R6、R7和R8,以及NPN晶体管Q9、Q10和PMOS管M1、M2;电阻R5和R6一端接电源电压VIN,电阻R5的另一端接在PMOS管M1的源极,电阻R6的另一端接在PMOS管M2的源极;电阻R8一端接在NPN晶体管Q10的发射极,另一端接地;PMOS管M1和M2栅极均接在PMOS管M2的漏极,PMOS管M1的漏极接在电阻R7上;NPN晶体管Q9的基极、集电极接在一起共同接在NPN晶体管Q10的基极和电阻R7的另一端,NPN晶体管Q9发射极接地;NPN晶体管Q10的集电极接在PMOS管M2的漏极,发射极接在电阻R8上。
3.根据权利要求1或2所述的带隙基准源,其特征在于:调整电路(2)由PMOS管M3构成,PMOS管M3的源极接电源电压VIN,栅极接自偏置电路(1)中PMOS管M2的栅极,漏极接带隙核心电路(3)中PNP晶体管Q3的发射极。
4.根据权利要求3所述的带隙基准源,其特征在于:启动电路(4)包括电阻R9和R10,以及NMOS管M4、M5管;电阻R9一端接电源电压VIN,另一端接NMOS管M4的漏极;电阻R10的一端接在NMOS管M4的漏极,另一端接NMOS管M5的栅极;NMOS管M4的栅极接在PMOS管M1的漏极,源极接地;NMOS管M5的漏极接NPN晶体管Q10的集电极,源极接地。
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