[发明专利]实现TD－SCDMA射频前端全双工测试装置及方法

权利要求书

1、实现TD-SCDMA射频前端全双工测试装置，包括信号源、频谱仪、3个隔离器、2个衰减器、环行器、合路器、功分器、测试控制盘，信号源通过射频电缆与功分器相连，信号源通过触发线与测试控制盘相连，信号源通过触发线和参考时钟与频谱仪相连，功分器一出口通过射频电缆引出插入射频前端下行输入Tx端，功分器的另一出口通过射频电缆依次与隔离器1、衰减器20dB、隔离器2、环行器与射频前端的天线口(Ant)相连，环行器的另一出口通过射频电缆依次与衰减器40dB、合路器连接到频谱仪，射频前端的上行输出Rx端通过射频电缆依次与隔离器3、合路器与频谱仪相连，测试控制盘与射频前端通过10芯控制线连接。

2、实现TD-SCDMA射频前端全双工测试方法，按以下步骤进行：第一步：配置信号源，利用R&S的WinIQsim软件或者Agilent公司的SignalStudio产生一帧TD-SCDMA基带数据，且该帧数据的7个时隙都具有数据，包括上行导频和下行导频；第二步：将射频前端全双工测试装置连接到射频前端FE模块相应的端口；第三步：利用测试控制盘，使射频前端FE模块工作于动态切换状态；第四步：给测试装置及设备上电，信号源调出第一步中制作的信号，并送出射频信号，频谱仪同时接受上下行信号，并能解调出来，通过改变频谱仪的时隙参数设置，从而读取上下行信号的测试结果。

3、根据要求权利2所述的方法，其特征在于：当使用的频谱仪不支持解调全时隙信号时，让信号源单独发上行信号、下行信号，频谱仪分两次来测试射频前端模块的上下行指标，FE模块仍工作于切换状态。