[发明专利]光纤的测试分析和筛选分切的自动处理方法及设备无效

专利信息
申请号: 200710052073.5 申请日: 2007-04-29
公开(公告)号: CN101241040A 公开(公告)日: 2008-08-13
发明(设计)人: 涂金格;黄卫军 申请(专利权)人: 长飞光纤光缆有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01N21/958
代理公司: 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 代理人: 胡建平
地址: 430073湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 光纤 测试 分析 筛选 自动 处理 方法 设备
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种对光纤进行光学测试、质量分析和筛选分切的自动处理方法及设备。

背景技术

光纤在生产加工成形后需要进行光学测试和质量分析,在测试分析的基础上对未达标的光纤段须进行筛选分切处理,以使处理后的整段光纤达到产品要求的质量标准。在现有技术中,上述过程是分开进行的,先将待测光纤放到光时域反射计(OTDR)上测试光纤的长度,衰减,故障点位置等参数,并提供原始的沿着光纤传导方向进行反射的光功率数据;然后根据检测的数据进行人工分析,并人工判断如何分切,再手工操作光纤筛选分切机对光纤进行筛选分切处理。这样的检测分切过程不仅松散、繁杂,易发生分析操作失误,而且处理的效率较低,费工费时。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于针对上述现有技术存在的不足而提供一种自动化程度与处理效率都较高的光纤测试分析和筛选分切的自动处理方法及设备。

本发明为解决上述提出的问题进行自动处理方法的技术方案为:

数据采集:用光时域反射计对待测光纤进行检测,并通过计算机自动采集原始的沿着光纤传导方向进行反射的光功率数据;

测试分析:在采集数据后,数据将被自动导入计算机分析软件,并依据国家标准GJB1427A-1999光纤总规范和/或产品要求自动进行光纤的测试数据分析,得出实际测试结果,同时,分析软件将实际测试结果与产品要求进行比较和判定,给出光纤的测试分析报告;

质量分析:根据上述测试分析报告,计算机软件自动判断光纤是否合格,合格的光纤不再进行筛选分切;对不合格的光纤,计算机软件将对测试结果中涉及的光纤衰耗的均匀性进行分析,并对所有的测试事件(即不合格点或段)进行逐段筛选,自动找出待测光纤中满足产品各项要求的合格部分,输出质量分析报告,报告中包括整个光纤的合格段和不合格的丢弃段的具体位置;基于综合分析得到的质量分析报告,按照产品要求的商业段长,向光纤筛选机发出光纤的分切指令;

分切处理:光纤筛选机在接收到分切指令后,控制筛选机进行光纤的分切处理,将光纤的丢弃段从整段光纤中逐段切除。

按上述方案,所述的实际测试结果包括:光纤的长度、衰耗、反射峰大小、弯曲率、端差、单向均匀性、双向均匀性。

本发明测试分析和筛选分切的自动处理设备技术方案为:包括有光时域反射计和光纤筛选机,其不同之处在于在光时域反射计和光纤筛选机之间连接计算机,计算机中安设有光纤测试分析和质量分析的程序软件。

本发明的有益效果在于:1.将测试分析和分切筛选合二为一,OTDR与筛选机设备连成一体,实现了测试分切一体化,自动化程度高,大大简化了操作,提高了光纤测试分析和筛选分切的工效;2.基于国家标准GJB1427A-1999的自动测试分析的实现,降低了测试操作失误,提高了检测的准确性,增强了光纤成品的质量;3.综合产品要求的各个技术指标和商业段长,采用了优化的分切算法,在保证产品质量的前提下提高了光纤的产量。

附图说明

图1为本发明自动处理方法的流程框图。

图2为本发明自动处理设备一个实施例的结构示意图。

图3为本发明的一个实施例的测试分析图。

具体实施方式

下面结合附图进一步说明本发明的实施例。

本发明的自动处理设备包括有光时域反射计和光纤筛选机,在光时域反射计和光纤筛选机之间通过标准以态网连接计算机,相互连通,光时域反射计(OTDR)是光纤生产和安装工程中常用的一种设备,可以测试光纤的长度,衰减,故障点位置等,常用的设备有PK公司的OTDR6500和8000系列设备,OTDR6500是通过GPIB接口卡执行相关的控制指令进行采集,而OTDR8000则是直接调用测试控件即可采集。光时域反射计能够提供原始的沿着光纤传导方向进行反射的光功率数据。采集到的数据是沿着光纤传导方向分布的连续点,横坐标是该点的位置,纵坐标是该点反射的光功率数;上述这些检测的原始数据传输至计算机,经计算机的分析处理后,向光纤筛选机发送筛选分切的指令,光纤筛选机可有一台或多台。

本发明处理方法的实施例说明如下:

实施例1:

a)在光时域反射计测试控制界面输入工号、班号、光纤段长及光纤号;

b)将待测光纤耦合到光时域反射计,光时域反射计自动测光纤的实际长度;

c)屏幕上提示检查光纤耦合状况,并将待测光纤的另一端也耦合到测试设备;

d)光时域反射计按照设定的顺序逐一采集到不同光波长的测试数据;

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