[发明专利]数控回转工作台测量机构快速测量定位精度的方法

说明书

技术领域：

本发明与数控机床的回转工作台上的测量装置的定位精度的测量方法有关。

背景技术：

数控回转工作台定位精度动态、静态快速测量时，由于测量机构用圆光栅作角度测量基准元件，只有当圆光栅的回转中心与数控回转工作台的回转中心同心时，圆光栅显示的角度才是数控回转工作台转过的角度。然而，测量机构安装在数控回转工作台上时，不可能达到圆光栅的回转中心正好与数控回转工作台的回转中心同心。因此，必须对圆光栅显示的数控回转工作台转过的角度进行修正。

发明内容：

本发明的目的是提供一种对圆光栅显示的数控回转工作台转过的角度进行修正的数控回转工作台测量机构快速测量定位精度的方法。

本发明是这样实现的：

本发明数控回转工作台测量机构快速测量定位精度的方法，测量机构的主轴10与底板1固连，定位装置将主轴10定位于数控回转工作台中心的孔中，主轴10与圆光栅的刻线环固连，圆光栅座与轴套和第一连接板15固连，第一连接板15与光轴14固连，第二连接板17与夹头20连接，两只笔式长度计32与第一或第二连接板连接，其轴线通过主轴10的回转中心成90°夹角，一只笔式长度计的轴线与光轴的轴线在同一铅垂面内，笔式长度计的测头与第二连接板或第一连接板固连的测砧的内壁面M紧密接触，光轴位于第二连接17的两滚针或圆柱销49之间并与其有间隙，其测量步骤如下：

(1)当伺服电机驱动数控回转工作台转至数控回转工作台的基准点时，从基准点开始，伺服电机编码器根据计算机预设的数控回转工作台旋转一周的采样点数n，计算机动态或静态对圆光栅转过的轴角α_i和两只笔式长度计的x_i、y_i值同时采样，直至数控回转工作台回到基准点为止，

(2)将笔式长度计的x_i值和对应的i值用多项式的最小二乘法拟合得到X方向偏心量e_xi，其中i＝0，1，2，3，……n-1，

(3)将笔式长度计的y_i值和对应的i值用多项式的最小二乘法拟合得到Y方向偏心量e_yi，其中i＝0，1，2，3，……n-1，

(4)计算圆光栅转角与数控回转工作台实际转角之差Δ_i，

Δi=tg-1exir+eyi,]]>

r为圆光栅摆动中心的设计距离，

(5)计算数控回转工作台实际转角β_i，

β_i＝α₁+Δ₁，

α_i为圆光栅转角，

(6)计算数控回转工作台的转角偏差δ_i，

δi=βi-360×60×60′′n×ni,]]>

n_i为1—n中的任一正整数，

(7)求δ_i的最大值δ_max和最小值δ_min，

(8)计算数控回转工作台的定位精度δ，