[发明专利]低相位杂散的频率合成方法无效

专利信息
申请号: 200710048903.7 申请日: 2007-04-19
公开(公告)号: CN101064510A 公开(公告)日: 2007-10-31
发明(设计)人: 蔡竟业;杨远望;徐锐敏;延波;谢小强 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H03L7/197 分类号: H03L7/197
代理公司: 成都科海专利事务有限责任公司 代理人: 吕建平
地址: 610054四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 相位 频率 合成 方法
【权利要求书】:

1.一种低相位杂散的频率合成方法,其特征是包括以下步骤:

(1)选定能满足相噪和变频时间要求,并能覆盖所需频段范围的多重调节频率合成器;

(2)对频率合成器的每一个输出频率,基于可变的多重调节方案,预先计算得出其所有的去除已有确定干扰后的频率配置关系;

(3)设置频率合成器至对应的输出频率,利用位噪声测试系统测量每一种频率配置关系下输出信号的频谱水平,将所有满足要求的频率配置关系保存起来;

(4)重复步骤(3),直至走完要求的所有输出频率点;

(5)频率合成器的每一个输出频率,选取步骤(3)得到的频率配置关系中满足要求的对应频率配置关系,以列表方式存储到RAM/ROM中,可得到若干个能有效避开合成器本身产生的相关干扰的频率配置关系。

2.根据权利要求1所述的低相位杂散的频率合成方法,其特征是,频率合成器的每一个输出频率,选取步骤(3)得到的频率配置关系中一个最佳的对应频率配置关系以列表方式存储到RAM/ROM中。

3.根据权利要求1所述的低相位杂散的频率合成方法,其特征是,所述计算采用CPU进行计算。

4.根据权利要求3所述的低相位杂散的频率合成方法,其特征是,所述CPU选用单片机、DSP、FPGA、CPLD中的一种。

5.根据权利要求1所述的低相位杂散的频率合成方法,其特征是,频谱采用自动相位噪声测试系统测量。

6.根据权利要求1中所述的低相位杂散的频率合成方法,其特征是,所述频率合成器选用具有多重调节能力,每一个信号输出频率有多种频率配置关系可以供选择的频率合成器。

7.根据权利要求6中所述的低相位杂散的频率合成方法,其特征是,所述频率合成器中的频率合成芯片为直接数字频率合成芯片DDS,与混频锁相环相匹配,利用DDS和混频锁相环的配置参数灵活可变的特性进行频率合成。

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