[发明专利]环形振荡器速度测试结构无效
| 申请号： | 200710045074.7 | 申请日： | 2007-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN101373203A | 公开（公告）日： | 2009-02-25 |
| 发明（设计）人： | 彭兴伟;王伟;赵芳芳;何佳 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人： | 陆嘉 |
| 地址： | 201203*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 环形 振荡器 速度 测试 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种环形振荡器速度测试结构，其特征在于，
一小尺寸输出电路，直接连接于环形振荡器电路，输出振荡器波形，其中，所述小尺寸输出电路的寄生电容足够小，使得环形振荡器电路的输出能够直接驱动所述小尺寸输出电路。
2.如权利要求1所述的环形振荡器速度测试结构，其特征在于，
所述小尺寸输出电路中包括延迟电路，以放大波形周期。
3.如权利要求2所述的环形振荡器速度测试结构，其特征在于，
所述延迟电路包括数个反向器。
4.如权利要求1所述的环形振荡器速度测试结构，其特征在于，
所述小尺寸输出电路的尺寸为小于等于10×10平方微米。
5.如权利要求4所述的环形振荡器速度测试结构，其特征在于，
所述小尺寸输出电路的尺寸为小于等于5×5平方微米。
6.如权利要求5所述的环形振荡器速度测试结构，其特征在于，
所述小尺寸输出电路的尺寸为小于等于2×2平方微米。
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