[发明专利]界面裂纹扩展阻力表征涂层附着强度的测试方法无效

专利信息
申请号: 200710044481.6 申请日: 2007-08-02
公开(公告)号: CN101109696A 公开(公告)日: 2008-01-23
发明(设计)人: 沈耀;聂璞林;周滔;蔡珣 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N19/04 分类号: G01N19/04;G01N19/08;G06F19/00
代理公司: 上海交达专利事务所 代理人: 王锡麟;王桂忠
地址: 200240*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 界面 裂纹 扩展 阻力 表征 涂层 附着 强度 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种界面裂纹扩展阻力表征涂层附着强度的测试方法,其特征在于,利用外加载荷推动镶入基体中的楔形块,使附着在楔形块与基体共同表面上的涂层挠曲,促使裂纹在涂层与基体界面萌生扩展,通过显微观察设备,从试样的截面或表面直接观察裂纹几何形状,通过断裂力学计算出涂层附着强度。

2.如权利要求1所述的界面裂纹扩展阻力表征涂层附着强度的测试方法,其特征是,具体方法步骤为:

①在涂层基体中预制一楔形槽;

②使用相同几何形状的楔形块,并与楔形槽紧密配合;

③在基体带有楔形块的一侧表面附着一层涂层;

④通过加载系统推动楔形块,使产生竖直方向的位移,导致涂层与基体界面出现裂纹;

⑤利用显微观察设备从被测物的侧面直接观测裂纹形貌,测量裂纹几何形状参数;

⑥将裂纹几何形状参数与涂层力学参数代入断裂理论模型模型,计算出界面裂纹扩展阻力G,以裂纹扩展阻力G值来定量表征涂层附着强度。

3.如权利要求2所述的界面裂纹扩展阻力表征涂层附着强度的测试方法,其特征是,步骤⑤中,所述的显微观察设备,是光学显微镜、扫描电镜,或超声显微镜。

4.如权利要求2所述的界面裂纹扩展阻力表征涂层附着强度的测试方法,其特征是,步骤⑥中,所述的界面裂纹扩展阻力G:

<mrow><mi>G</mi><mo>=</mo><mfrac><msup><mi>q</mi><mn>2</mn></msup><mrow><mn>4</mn><mi>D</mi></mrow></mfrac></mrow><msup><mrow><mo>(</mo><mn>3</mn><mi>a</mi><mo>+</mo><mi>b</mi><mo>)</mo></mrow><mn>2</mn></msup>

其中:

<mrow><mi>q</mi><mo>=</mo><mi>w</mi></mrow><mrow><mo>/</mo><mo>[</mo></mrow><mfrac><mrow><msup><mi>a</mi><mn>3</mn></msup><mo>-</mo><msup><mi>b</mi><mn>3</mn></msup></mrow><mrow><mn>6</mn><mi>D</mi></mrow></mfrac><mrow><mo>+</mo><mfrac><mrow><msup><mi>a</mi><mn>2</mn></msup><mi>b</mi><mo>-</mo><msup><mi>ab</mi><mn>2</mn></msup></mrow><mi>D</mi></mfrac><mo>-</mo></mrow><mfrac><msup><mrow><mo>(</mo><mi>a</mi><mo>-</mo><mi>b</mi><mo>)</mo></mrow><mn>3</mn></msup><mrow><mn>4</mn><mi>D</mi></mrow></mfrac><mo>]</mo>

<mrow><mi>D</mi><mo>=</mo><mfrac><msup><mi>Eh</mi><mn>3</mn></msup><mrow><mn>12</mn><mrow><mo>(</mo><mn>1</mn><mo>-</mo><msup><mi>v</mi><mn>2</mn></msup><mo>)</mo></mrow></mrow></mfrac></mrow>

a为对称裂纹一半长度,b为楔形块一半长度,w为楔形块竖直与涂层表面的位移,E和v为涂层弹性模量和泊松比。

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