[发明专利]一种组合式超声波探头

说明书

技术领域

本发明涉及超声波探伤领域，特别的，涉及一种可同步对纵向缺陷、 横向缺陷以及分层缺陷进行超声波检测的组合探头。

背景技术

超声波探头又称作超声波换能器，它是实现电能和声能相互转换的一种 器件，并且也是实现超声波检测的关键部件。通常的超声波探头分为纵波直 探头和横波斜探头两大类。其中，纵波直探头主要用于检测与金属工件探测 面平行的缺陷，如分层、夹杂、缩孔等缺陷；横波斜探头主要用于检测与金 属工件探测面有一定夹角的缺陷，如裂纹、折叠等缺陷。

现有技术中，用于手工探伤的探头有：纵波单晶片直挺探头、纵波双晶 片直挺探头、纵波多晶片组合探头、横波单晶片斜探头、横波双晶片斜探头、 横波多晶片组合探头。虽然探头的种类很多，但是，上述的各种探头只能探 测同一种取向的缺陷。由于标准规定要求对每个工件都进行纵波探伤和横波 探伤，因此根据现有的探头技术，对工件的探伤需要先用直探头对工件进行 纵波探伤，然后再用斜探头对工件进行横波探伤。而这样的探伤方法虽然能 够保证探伤质量，但是探伤效率较低，不利于大批量工件的探伤。

发明内容

本发明的目的是提供一种组合式超声波探头，该探头能够在一次探伤 过程中同步完成对工件纵向缺陷、横向缺陷、分层缺陷等各类缺陷的检测。

本发明的组合式超声波探头在探头的底部设有正向横向探头晶片、正 向纵向探头晶片、双晶分层探头、反向纵向探头晶片和反向横向探头晶片， 所述各探头晶片和双晶分层探头分别与其对应的电极插口相连。

为了避免检测横向缺陷的横波声束与检测纵向缺陷的横波声束相互 之间发生波形干扰，因此，须将正向横向探头晶片和反向横向探头晶片设 置在底部的两端，以使声波向两侧传播。另外，在组合式超声波探头中， 为防止晶片间的超声波发生内部相互干扰，因此须在各晶片之间都设置有 隔声层。

当所述组合式超声波探头与工件耦合时，通过正向横向探头晶片、反 向横向探头晶片、正向纵向探头晶片和反向纵向探头晶片对被测工件进行 横波探伤。其中正向横向探头晶片与反向横向探头晶片从两相对方向检测 工件的横向缺陷，正向纵向探头和反向纵向探头从两相对方向检测工件的 纵向缺陷。而双晶分层探头对被测工件进行纵波探伤以检测工件的分层缺 陷。

上述用于检测纵向缺陷、横向缺陷的探头晶片的位置设置需要考虑工 件中所得到的折射角。最佳的，为了保证工件中得到45°的折射角，将 探头晶片与水平面呈27°倾斜。内置于上述双晶分层探头的各晶片其位 置设置需要能够保证探测分层缺陷的需求，最佳的，双晶分层探头中的各 晶片与水平面呈5°倾斜。

为了使组合式超声波探头能够快速准确的检测到工件的缺陷，采用复 合材料来制作探头晶片。更佳的，所述探头晶片复合材料可以由四氧化三 铅，二氧化镐，二氧化钛，五氧化二铌，三氧化二锑，碳酸锶等成分组成。

探头晶片通过对上述原料进行烧结、研磨而成形，并在成形后进行极 化处理。通过这样的工艺，可以提高压电晶片的压电性能，晶片的均匀度 及晶片厚度尺寸的精度。

在探头晶片的上部设有阻尼吸收块，用于向探头晶片发送或接收信 号。因此超声波探头的灵敏度、信噪比好坏除了与晶片成分有关外，更与 阻尼吸收块的吸声阻尼材料有关。本实用新型中的吸声阻尼材料也为复合 材料，更佳的，对于使用上述成分配比而制成的晶片，其吸声阻尼材料由 环氧，钨粉，红丹，橡胶，二硫化铜等成分组成。

所述组合式超声波探头还包括耦合水进水口和耦合水出水口，在实际 探伤过程中，当探头与工件耦合时，由于耦合水不断地在组合式探头的水 腔中流进流出，因而在组合式探头与工件间形成了一层水膜。

由于采用了本发明的技术方案，因而得到了如下有益效果：

1)组合式探头的设计集合了双向检测功能，纵、横向缺陷检测功能 和分层缺陷检测功能，一次探伤就可完成多种取向缺陷的检测，与现有探 头探伤方式相比，探伤工作效率可提高5倍以上。

2)由于在探伤过程中在工件表面和探头间形成了一层稳定水膜，更 有利于超声波信号稳定传播，提高了探伤质量。并且替代了现有人工喷涂 机油进行耦合的方式，减轻操作人员的劳动强度，减少了对环境的污染。

附图说明

图1为本发明所述组合式超声波探头实施例的剖视图；

图2为图1中沿B-B的剖视图；